The X-ray diffraction (XRD) measure

The X-ray diffraction (XRD) measurements of the prepared LiEu0.85Bi0.15(MoO4)2 phosphor were carried out by a
Shimadzu XRD-6000 diffractometer with Cu K radiation (=0.15405 nm) operated at 40 kV and 30 mA.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วัดการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ของ LiEu0.85Bi0.15 เตรียม (MoO4) 2 phosphor ได้ดำเนินการโดยการ
diffractometer Shimadzu XRD 6000 กับรังสี Cu K (= 0.15405 nm) ดำเนินการใน 40 kV และ 30 mA

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (XRD) วัดที่เตรียมไว้ LiEu0.85Bi0.15 (หมู่ที่ 4) 2 สารเรืองแสงได้ดำเนินการโดย
diffractometer Shimadzu XRD-6000 กับ Cu K? รังสี (? = 0.15405 นาโนเมตร) ที่ดำเนินการที่ 40 kV และ 30 mA

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD ) และเตรียม lieu0.85bi0.15 ( หมู่ที่ 2 ) ฟอสเฟอร์ ได้ดำเนินการโดย
Shimadzu xrd-6000 ดิฟแฟรกโทมิเตอร์กับ Cu K  รังสี (  = 0.15405 nm ) ดำเนินการ 40 กิโล และมา 30