Fig. 3 shows the backscatter electr

Fig. 3 shows the backscatter electron images of samples
deuterated at 900
C, 800
C and 700
C. It can be seen from Fig. 3(a)
that, when deuterated at 900
C, the sample is in good condition
and only a few cracks appear on its edge. However, when deuterated
at 800
C, the sample cracks seriously, with the cracks intersecting
each other in a disordered way and forming a net-shaped
morphology, as shown in Fig. 3(b). When deuterated at 700
C, the
sample also cracks seriously like that at 800
C, see Fig. 3(c), but the
sizes of the cracks become much smaller and their density becomes
much greater than those at 800
C.
The XRD results of samples deuterated 900
C, 800
C and
700
C are shown in Fig. 4. It can been seen that all the samples
deuterated at 900
C, 800
C and 700
C have a ε-ZrD1.8 phase. It
should be noted that these results only represent the phase structure
at the surface, not the inner part, because of limited X-ray
penetration ability (~30 mm) on the bulk samples.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Fig. 3 ภาพอิเล็กตรอนอย่าง backscatter แสดงdeuterated ที่ 900 C, 800 C และ c 700 จะเห็นได้จาก Fig. 3(a)เมื่อ deuterated ที่ 900 C ตัวอย่างว่าในสภาพที่ดีและเพียงไม่กี่รอยปรากฏบนขอบของ อย่างไรก็ตาม เมื่อ deuteratedที่ 800 C ตัวอย่างรอยแตกอย่างจริงจัง กับรอยแตกที่อินเตอร์เซกกันกันในทาง disordered สุทธิรูปทรงขึ้นรูปสัณฐานวิทยา มาก Fig. 3(b) เมื่อ deuterated ที่ 700 C การตัวอย่างยังรอยแตกอย่างจริงจังเช่นนั้นที่ 800 C, Fig. 3(c) ดูแต่ขนาดของรอยแตกที่เป็นขนาดเล็ก และความหนาแน่นของพวกเขากลายเป็นยิ่งกว่าที่ 800 C.ตัวอย่างผล XRD deuterated C 900, 800 C และ700 C จะแสดงใน Fig. 4 มันสามารถถูกเห็นที่ตัวอย่างทั้งหมดdeuterated ที่ 900 C, 800 C และ 700 C ได้ระยะε ZrD1.8 มันควรตั้งข้อสังเกตว่า ผลเหล่านี้แสดงโครงสร้างขั้นตอนเท่านั้นที่พื้นผิว ไม่ภายในส่วน เนื่องจากเอกซเรย์จำกัดความสามารถเจาะ (~ 30 mm) บนตัวอย่างจำนวนมาก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูป 3 แสดงภาพอิเล็กตรอนแบบแสงสะท้อนของกลุ่มตัวอย่าง
deuterated ที่ 900? C 800 องศาเซลเซียสและ 700 องศาเซลเซียส มันสามารถเห็นได้จากรูป 3 (ก)
ว่าเมื่อ deuterated ที่ 900
องศาเซลเซียสตัวอย่างอยู่ในสภาพดีและมีเพียงไม่กี่รอยแตกปรากฏบนขอบ แต่เมื่อ deuterated
ที่ 800? C,
รอยแตกตัวอย่างจริงจังกับรอยแตกตัดแต่ละอื่นๆ
ในทางที่เป็นระเบียบและสร้างสุทธิที่มีรูปทรงสัณฐานดังแสดงในรูป 3 (ข) เมื่อ deuterated ที่ 700? C,
ตัวอย่างยังรอยแตกอย่างจริงจังเช่นเดียวกับที่ที่ 800 องศาเซลเซียสดูรูป 3 (ค)
แต่ขนาดของรอยแตกกลายเป็นขนาดเล็กมากและความหนาแน่นของพวกเขาจะกลายเป็นมากขึ้นกว่าผู้ที่
800 องศาเซลเซียส.
ผล XRD ตัวอย่าง deuterated 900 องศา, 800 องศาเซลเซียสและ
700 องศาเซลเซียสจะมีการแสดงในรูป 4 มันสามารถมองเห็นได้ว่ากลุ่มตัวอย่างทั้งหมด
deuterated ที่ 900? C 800 องศาเซลเซียสและ 700? C มีระยะε-ZrD1.8 มันควรจะตั้งข้อสังเกตว่าผลเหล่านี้เท่านั้นที่เป็นตัวแทนของโครงสร้างเฟสที่พื้นผิวไม่ส่วนด้านในเพราะจำกัด เอ็กซ์เรย์ความสามารถในการเจาะ(~ 30 มิลลิเมตร) ในกลุ่มตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 3 แสดงการกระเจิงกลับของอิเล็กตรอนภาพตัวอย่าง
deuterated 900
C , 800
C 700
C มันสามารถเห็นได้จากรูปที่ 3 ( ก )
, เมื่อ deuterated 900
C ตัวอย่าง สภาพดี
และเพียงไม่กี่ รอยแตกปรากฏบนขอบของ อย่างไรก็ตาม เมื่อ deuterated
ที่ 800
C ตัวอย่างรอยแตกอย่างจริงจังกับรอยแตกตัดกัน
แต่ละอื่น ๆในระบบ และสร้างข่ายรูป
สัณฐานวิทยาดังแสดงในรูปที่ 3 ( B ) เมื่อ deuterated ที่ 700
C
ตัวอย่างยังรอยแตกเหมือนกับที่ 800
C ดูรูปที่ 3 ( C ) แต่
ขนาดของรอยแตกกลายเป็นขนาดเล็กมากและความหนาแน่นของพวกเขากลายเป็น
มากขึ้นกว่าผู้ที่ 800
C .
XRD ผลลัพธ์ของตัวอย่าง deuterated 900
800
C C และ

700 C จะแสดงในรูปที่ 4 มันสามารถถูกเห็นได้ว่ากลุ่มตัวอย่าง
deuterated 900
C800
C 700
C มีεเฟส zrd1.8 . มันควรจะสังเกตว่าผลลัพธ์เหล่านี้

แค่เป็นตัวแทนของโครงสร้างระยะที่ผิว ไม่ ภายใน ส่วน เพราะความสามารถเอ็กซ์เรย์
จำกัดเจาะ ( ~ 30 มม. ) ในกลุ่มตัวอย่างที่เป็นกลุ่ม