Atomic force microscopy (AFM) image

Atomic force microscopy (AFM) images and AFM height profile of
the ridge-like features induced on the surface of the AA5083-O alloy
showing the surface topography of the surface after anodizing in
Barker's reagent are displayed in Fig. 2. The observed ridge-like features
show distinct arrays of ridges which are directly associated with the
orientation of the grains In Fig. 2c it can be seen that there are
two types of ridges present in the grain of the AA5083-O alloy under

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) ภาพและรายละเอียดสูง AFM
ของคุณสมบัติสันเหมือนเหนี่ยวนำให้เกิดบนพื้นผิวของโลหะผสมAA5083-O,
การแสดงพื้นผิวภูมิประเทศของพื้นผิวหลังจาก anodizing
ในสารของบาร์เกอร์จะปรากฏในรูป 2. สังเกตคุณสมบัติสันเหมือนแสดงอาร์เรย์ที่แตกต่างของสันเขาที่เกี่ยวข้องโดยตรงกับการวางแนวของธัญพืชในรูป 2c จะเห็นได้ว่ามีสองประเภทของสันเขาอยู่ในเมล็ดของโลหะผสมAA5083-O ภายใต้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พระบรมมหาราชวังพระบรมมหาราชวัง