ABSTRACTSlow crack growth a,-udysis

ABSTRACT
Slow crack growth a,-udysis was ped'onned with tJ_ee different
loading histories including constant s_'css-mteJconstant slress-ratc
testing (Case I loading), constant skess/constant stress-rate testing
(Case II loading), and cyclic stress/constant stress-rate testing (Case ITI
loading_ Strength degradation due to slow crack growth and/or
damage accumulation was determined numerically as a function of
percentage of interruption time between the two loading sequences for
a given loading history. The numerical solutions were examined with
the experimental data determined at elevated temperatures using four
different advanced ceramic materials, two silicon nitrides, one silicon
carbide and one alumina for the Case I loading history, and alumina for
the Case H loading history. The numerical solutions were in reasonable
agreement with the experimental data, indicafin 8 that notwithstandin 8
some degree of creep deformation presented for some test materials
slow crack growth was a governing mechanism associated with failure
for all the test materials.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

บทคัดย่อ
แตกช้าเจริญเติบโต -udysis ถูก ped'onned กับ tJ_ee ที่แตกต่างกัน
รวมทั้งประวัติโหลดคง s_'css-mteJconstant slress-รัช
การทดสอบ (กรณีที่ผมโหลด), skess คงที่ / การทดสอบความเครียดอัตราดอกเบี้ยคงที่
(กรณีที่สองโหลด) และวงจร ความเครียด / ทดสอบความเครียดอัตราดอกเบี้ยคงที่ (กรณี ITI
loading_ การย่อยสลายความแข็งแรงเนื่องจากการชะลอการเจริญเติบโตแตกและ / หรือ
การสะสมความเสียหายถูกกำหนดตัวเลขเป็นหน้าที่ของ
ร้อยละของเวลาการหยุดชะงักระหว่างสองลำดับการโหลดสำหรับ
ประวัติความเป็นมาให้โหลด. การแก้ปัญหาเชิงตัวเลขมีการตรวจสอบ กับ
ข้อมูลการทดลองกำหนดที่อุณหภูมิสูงใช้สี่
ที่แตกต่างกันวัสดุเซรามิกขั้นสูงสองไนไตรซิลิกอนหนึ่งซิลิกอน
คาร์ไบด์และอลูมินาหนึ่งสำหรับกรณีประวัติผมโหลดและอลูมิเนียมสำหรับ
ประวัติโหลดกรณี H. การแก้ปัญหาที่เป็นตัวเลขที่เหมาะสมอยู่ใน
ข้อตกลงกับ ข้อมูลการทดลอง, indicafin 8 ที่ notwithstandin 8
ระดับหนึ่งของการเสียรูปคืบนำเสนอสำหรับบางวัสดุทดสอบ
การเจริญเติบโตช้าแตกเป็นกลไกการกำกับดูแลที่เกี่ยวข้องกับความล้มเหลว
สำหรับทุกวัสดุทดสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นามธรรม
ช้าแตกการเจริญเติบโต , - udysis คือ ped'onned กับ tj_ee แตกต่างกัน
โหลดประวัติศาสตร์รวมทั้งคงที่ s_'css-mtejconstant slress ขาย
การทดสอบ ( กรณีผมโหลด ) , ค่าคงที่ skess / คงที่
ทดสอบอัตราความเครียด ( โหลดกรณี II ) และวงจรความเครียด / ความเครียดคงคะแนนการทดสอบ ( กรณี ITI
loading_ การสลายตัวเนื่องจากการเจริญเติบโตช้าแตกแรง และ / หรือ
การสะสมความเสียหายถูกกำหนดด้วยตัวเลขที่เป็นฟังก์ชันของ
ร้อยละของเวลาที่ขัดจังหวะระหว่างสองลำดับสำหรับการโหลดให้โหลดประวัติศาสตร์ การแก้ปัญหาเชิงตัวเลข เหมาะสมกับข้อมูลที่กำหนด

สูงอุณหภูมิใช้สี่ที่แตกต่างกันขั้นสูงวัสดุเซรามิกซิลิคอนไนไตรด์ 2 , ซิลิคอนคาร์ไบด์และหนึ่งหนึ่ง
อลูมินาสำหรับกรณีนี้ ผมโหลด ประวัติและอลูมินาสำหรับ
h โหลด คดีประวัติศาสตร์ โซลูชั่นตัวเลขอยู่ที่เหมาะสม
ข้อตกลงกับข้อมูลการทดลอง indicafin 8 ที่ notwithstandin 8
บางระดับของการคืบที่นำเสนอวัสดุ
ทดสอบบางช้าแตกของกลไกการปกครองที่เกี่ยวข้องกับความล้มเหลว
สำหรับวัสดุทดสอบ