The X-ray diffraction (XRD) measure

The X-ray diffraction (XRD) measurements were performed on a Philips PW1050 X-ray diffractometer (Cu-Ka source. 0.154 nm).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การวัดการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ (XRD) ได้ดำเนินการในเป็น Philips PW1050 X-ray diffractometer (Cu-Ka แหล่งขึ้น 0.154 nm)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray การเลี้ยวเบน (XRD) วัดได้ดำเนินการใน diffractometer Philips PW1050 X-ray (Cu-Ka แหล่ง. 0.154 นาโนเมตร)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD ) การวัดการเอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ฟิลิปส์ใน pw1050 ( CU ค่ะแหล่งที่มา 0.154 nm )