The morphology of the particles dep

The morphology of the particles deposited on the alumina substrate was determined by Scanning Electron Microscopy (SEM) using a high resolution FEG JEOL7600Fwith an accelerating voltage of 5 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานของอนุภาคที่ฝากไว้ในพื้นผิวอลูมินากำหนดโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) โดยใช้ความละเอียดสูง FEG JEOL7600Fwith แรงดันการเร่ง 5 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของอนุภาคที่ฝากบนพื้นผิวอลูมิเนียมที่ถูกกำหนดโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) โดยใช้ความละเอียดสูง FEG JEOL7600Fwith แรงดันเร่ง 5 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สัณฐานวิทยาของอนุภาคที่ฝากไว้บนพื้นผิวอะลูมินาถูกกำหนดโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) โดยใช้ FEG ความละเอียดสูง jeol7600fwith เร่งแรงดัน 5 KV .