The chemical composition of tested

The chemical composition of tested alloys is listed in Table 1. The melting of various alloys has been conducted in induction furnace. Test samples for structural analysis have been cut from the bars (200mm long and 30mm in diameter) cast in the sand molds.
The microstructure was examined using conventional optical microscopy (OM), scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM). Samples for optical microscope examinations were prepared using standard metallographic technique (etched with picric acid solution (1g) in methanol (100ml) by adding 5ml of hydrochloric acid or etched with Murakami). The size and volume fraction of the phases present in the structure were determined using image analyzer. The morphology of carbide was examined by a scanning electron microscope, JEOL 733-FCXA, using an accelerating voltage of 25kV. For this examination, the polished samples were deep etched in a 10% HCl solution in methanol for 24h then cleaned in an ultrasonic bath. The chemical composition of the carbides was determined using energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS). Discs for TEM examinations were prepared by using a twin-jet electropolisher. These samples were examined at 200kV in a JEOL-2000FX transmission electron microscope

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

องค์ประกอบทางเคมีของโลหะผสมที่ผ่านการทดสอบแสดงไว้ในตารางที่ 1 การละลายของโลหะผสมต่าง ๆ มีการดำเนินในเตา ถูกตัดตัวอย่างทดสอบสำหรับการวิเคราะห์โครงสร้างจากบาร์ (ยาว 200 มม.และ 30 มม.เส้นผ่านศูนย์กลาง) หล่อในแม่พิมพ์ทรายจุลภาคถูกตรวจสอบโดยใช้ธรรมดาแสงกล้องจุลทรรศน์ (OM), การสแกนส่งชาวดัตช์ (TEM) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) มีเตรียมตัวอย่างสำหรับสอบทรรศใช้เทคนิค metallographic มาตรฐาน (สลัก ด้วยกรด picric (1g) ในเมทานอล (100 มล.) โดยการเพิ่ม 5 มล.ของกรดไฮโดรคลอริก หรือสลัก ด้วยมุระกะมิ) ส่วนขนาดและปริมาณของเฟสในโครงสร้างปัจจุบันถูกใช้วิเคราะห์ภาพ มีการตรวจสอบลักษณะทางสัณฐานวิทยาของคาร์ไบด์ ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด JEOL 733-FCXA ใช้แรงดันการเร่งของ 25kV สำหรับการตรวจสอบนี้ ตัวอย่างขัดได้ลึกฝังในโซลูชัน HCl 10% ในเมทานอล 24 ชั่วโมงจาก นั้นล้างในอ่างอัลตราโซนิก มีพิจารณาองค์ประกอบทางเคมีของคาร์ไบด์ใช้พลังงาน dispersive X-ray สเปกโทรสโก (EDS) แผ่น TEM สอบจัดทำโดย electropolisher ทวิ jet ขึ้น ตัวอย่างเหล่านี้ถูก examined ที่ 200kV ใน JEOL 2000FX กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

องค์ประกอบทางเคมีของโลหะผสมการทดสอบที่ระบุไว้ในตารางที่ 1 การละลายของโลหะผสมต่าง ๆ ได้รับการดำเนินการในเตาเหนี่ยวนำ ตัวอย่างทดสอบสำหรับการวิเคราะห์โครงสร้างได้ถูกตัดออกจากบาร์ (200mm ยาวและ 30mm เส้นผ่าศูนย์กลาง) หล่อแม่พิมพ์ทราย.
จุลภาคถูกตรวจสอบโดยใช้กล้องจุลทรรศน์ธรรมดาออปติคอล (OM) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) . ตัวอย่างสำหรับการสอบกล้องจุลทรรศน์ได้จัดทำขึ้นโดยใช้เทคนิค metallographic มาตรฐาน (กัดด้วยสารละลายกรด picric (1G) ในเมทานอล (100ml) โดยการเพิ่ม 5ml ของกรดไฮโดรคลอริกหรือกัดด้วย Murakami) ขนาดและปริมาณส่วนของขั้นตอนที่มีอยู่ในโครงสร้างที่ได้รับการพิจารณาโดยใช้การวิเคราะห์ภาพ ลักษณะทางสัณฐานวิทยาของคาร์ไบด์ถูกตรวจสอบโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน JEOL 733-FCXA โดยใช้แรงดันเร่ง 25kV สำหรับการตรวจสอบนี้ตัวอย่างขัดถูกฝังลึกลงไปในสารละลาย HCl 10% ในเมทานอลสำหรับ 24 ชั่วโมงจากนั้นทำความสะอาดในห้องอาบน้ำอัลตราโซนิก องค์ประกอบทางเคมีของคาร์ไบด์ถูกกำหนดโดยใช้พลังงานกระจาย X-ray สเปกโทรสโก (EDS) แผ่นดิสก์สำหรับการสอบ TEM ได้จัดทำขึ้นโดยใช้ electropolisher คู่เจ็ท ตัวอย่างเหล่านี้มีการตรวจสอบที่ 200kV ใน JEOL-2000FX ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

องค์ประกอบทางเคมีของการทดสอบโลหะผสมอยู่ในตารางที่ 1 การหลอมละลายของโลหะต่าง ๆ ได้ถูกดำเนินการในเตา induction ทดสอบตัวอย่างเพื่อการวิเคราะห์โครงสร้างได้ถูกตัดจากแท่ง ( 200mm ยาวและ 30mm เส้นผ่าศูนย์กลาง ) หล่อในทรายแม่พิมพ์โครงสร้างระดับกล้องจุลทรรศน์แบบใช้แสง ( OM ) , กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( TEM ) ตัวอย่างสำหรับการสอบเตรียมได้โดยใช้กล้องจุลทรรศน์ Metallographic มาตรฐานเทคนิค ( แกะสลักด้วยสารละลายกรดพิคริก ( 1G ) เมทานอล ( 100ml ) โดยการเพิ่ม 5ml กรดเกลือหรือฝังกับมุราคามิ ) ขนาดและปริมาณของเฟสอยู่ในโครงสร้างการพิจารณาวิเคราะห์ภาพ สัณฐานวิทยาของคาร์ไบด์ถูกตรวจสอบโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราดจอล 733-fcxa , การเร่งแรงดันของ 25kv . สำหรับการสอบครั้งนี้ มีขัดลึก อยู่ใน 10% กรดไฮโดรคลอริกในเมทานอลสำหรับ 24 ชั่วโมงแล้วล้างในอ่างอัลตราโซนิก องค์ประกอบทางเคมีของคาร์ไบด์ถูกกำหนดใช้เอ็กซเรย์พลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( EDS ) แบบแผ่นสำหรับการสอบเตรียมได้โดยใช้ electropolisher เจ็ทคู่ ตัวอย่างเหล่านี้มีวัตถุประสงค์ที่ 200kv ในการส่ง jeol-2000fx กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน