a transducer/striker assemblywith a

a transducer/striker assembly
with a fdev lower than 6 kHz will not adversely affect the test
data. This is due to the damping effect of the test specimen
itself as well as the large magnitude of the loading event in
comparison to the initial oscillation produced by the transducer
assembly.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ประกอบพิกัด/กองหน้ามี fdev ที่ต่ำกว่า 6 kHz จะไม่กระทบต่อผลการทดสอบข้อมูล นี่คือเนื่องจากผล damping ของตัวอย่างทดสอบตัวเองเป็นขนาดใหญ่ของเหตุการณ์การโหลดในเปรียบเทียบการสั่นเริ่มผลิต โดยพิกัดที่แอสเซมบลี

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวแปลงสัญญาณ / การชุมนุมกองหน้า
กับ fdev ต่ำกว่า 6 เฮิร์ทซ์จะไม่ส่งผลกระทบต่อการทดสอบ
ข้อมูล นี่คือสาเหตุที่ทำให้หมาด ๆ ผลของการทดสอบชิ้นงาน
ของตัวเองเช่นเดียวกับความสำคัญของการจัดงานขนาดใหญ่ในการโหลดใน
การเปรียบเทียบกับการสั่นครั้งแรกที่ผลิตโดยแปลงสัญญาณ
การชุมนุม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตัวแปลงสัญญาณ / กองหน้าประกอบ
กับ fdev ต่ำกว่า 6 kHz จะไม่ส่งผลกระทบกับข้อมูลทดสอบ

นี้คือเนื่องจากการ Damping ผลของการทดสอบตัวอย่าง
ตัวเอง รวมทั้งขนาดใหญ่ของโหลดงาน
เปรียบเทียบเบื้องต้นนี้ผลิตโดย transducer
ประกอบ