อิเล็กโทรไลต์รั่ว คือ จุดเด่นของการตอบสนองต่อความเครียดในเซลล์พืชครบถ้วน ปรากฏการณ์นี้เป็นอย่างกว้างขวางใช้เป็นแบบทดสอบสำหรับ stress-induced การบาดเจ็บของเนื้อเยื่อพืชและ " วัด " ความอดทนความเครียดพืช ( เลวิตต์ , 1972 ; บลูม และ ebercon , 1981 ; bajji et al . , 2002 ; ลีและ Zhu , 2010 ) ไลท์รั่วเป็นที่แพร่หลายในหมู่สปีชีส์ต่าง เนื้อเยื่อ และเซลล์ และสามารถเรียกโดยปัจจัยความเครียดหลักๆ ทั้งหมด รวมทั้งเชื้อโรคโจมตี ( Atkinson et al . , 1985 , 1990 , 1996 ; เอเบล และ mithofer , 1998 ; แบลตต์ et al . , 1999 ; มาฟเฟอี et al . , 2007 ) ความเค็ม ( nassery 1975 ; maathuis และ amtmann , 1999 ; shabala et al . , 2006 ; demidchik et al . , 2010 ) โลหะหนัก ( เดอวอส et al . , 1991 ; เมอร์ฟี่และ Taiz , 1997 ; demidchik et al . , 2003 ) , เครียดออกซิเดชัน ( demidchik et al . , 2003 , 2010 ) , ความเป็นกรด - ด่างของดิน สูง ( pH < 4 ) ( ใน มาร์ชเนอร์ et al . , 1966 ) ไป ( nassery 1971 , 1972 ) , อ้อย ( shabala , 2011 ) , ภัยแล้ง ( Blum และ ebercon , 1981 ; Leopold et al . , 1981 ; shcherbakova และ kacperska , 1983 ) , ความร้อน ( หลิวและ Huang , 2000 ) , และคนอื่น ๆ . ไลท์รั่วตรวจจับได้เกือบจะทันทีหลังการใช้ปัจจัยความเครียดและใช้เวลาจากไม่กี่นาทีถึงหลายชั่วโมง ส่วนใหญ่จะเกิดจากการผลักดันของ K + และที่เรียกว่า counterions ( CL กล่าว hpo4 2 – 3 – citrate3 ) , , , และ malate2 ) ที่ย้ายเพื่อความสมดุลของการไหลออกของโพแทสเซียมไอออนประจุบวก ( ปาลตา et al . , 1977 ; bajji et al . , 2002 ) บางความเครียดทำให้เกิดการสูญเสียอย่างมากของ K + กิจกรรมของอาหารนี้ในไซโตซอลและช่องโทรศัพท์มือถืออื่น ๆสามารถลดจาก 70 - 200mm 10 – 30mm ( ตัวอย่าง เช่น โดย shabala et al . , 2006 ในไซโตซอลใช้คม K + - เลือก microelectrodes ) นี้เป็นสิ่งสำคัญโดยเฉพาะอย่างยิ่งสำหรับรากที่ K + รั่วเป็นปรากฏการณ์ทั่วไปที่นำไปสู่การสูญเสียกลับไม่ได้ K + พืชในระหว่างการตอบสนองความเครียด
การแปล กรุณารอสักครู่..
![](//thimg.ilovetranslation.com/pic/loading_3.gif?v=b9814dd30c1d7c59_8619)