The analysis of major and trace ele

The analysis of major and trace elements in geological materials by XRF is made possible by the behavior of atoms when they interact with X-radiation. An XRF spectrometer works because if a sample is illuminated by an intense X-ray beam, known as the incident beam, some of the energy is scattered, but some is also absorbed within the sample in a manner that depends on its chemistry. The incident X-ray beam is typically produced from a Rh target, although W, Mo, Cr and others can also be used, depending on the application.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การวิเคราะห์หลักและองค์ประกอบติดตามวัสดุธรณีวิทยาโดย XRF จะทำไป โดยพฤติกรรมของอะตอมเมื่อพวกเขาทำงานกับ X-radiation สเปกโตรมิเตอร์ XRF การทำงาน เพราะถ้าตัวอย่างเป็นการส่องสว่าง ด้วยการรุนแรงเอกซเรย์แสง เป็นบีมเหตุการณ์ บางส่วนของพลังงานจะกระจัดกระจาย แต่บางส่วนถูกดูดซึมภายในตัวอย่างในลักษณะที่ขึ้นอยู่กับเคมีของ แสงเอกซเรย์เหตุการณ์โดยทั่วไปจะผลิตจากเป้าหมาย Rh แม้ว่า W, Mo, Cr และอื่น ๆ สามารถใช้ ขึ้นอยู่กับโปรแกรมประยุกต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์องค์ประกอบที่สำคัญและติดตามในวัสดุทางธรณีวิทยาโดย XRF จะทำไปโดยพฤติกรรมของอะตอมเมื่อพวกเขามีปฏิสัมพันธ์กับรังสี X- สเปกโตรมิเตอร์ XRF ทำงานเพราะถ้ากลุ่มตัวอย่างมีความสว่างโดยลำแสงเอ็กซ์เรย์ที่รุนแรงหรือที่เรียกว่าคานเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นบางส่วนของพลังงานที่กระจัดกระจาย แต่บางคนจะถูกดูดซึมยังอยู่ในตัวอย่างในลักษณะที่ขึ้นอยู่กับคุณสมบัติทางเคมีของ ลำแสงเอกซเรย์เหตุการณ์ที่เกิดขึ้นมีการผลิตโดยทั่วไปจากเป้าหมาย Rh แม้ว่า W, Mo, Cr และอื่น ๆ นอกจากนี้ยังสามารถนำมาใช้ขึ้นอยู่กับโปรแกรม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์ปริมาณธาตุหลักและในวัสดุทางธรณีวิทยาโดย XRF ได้โดยพฤติกรรมของอะตอมเมื่อพวกเขามีปฏิสัมพันธ์กับรังสีเอ็กซ์ - . มีตัวอย่างงาน เพราะถ้าสเปก XRF สว่างโดยเอ็กซ์เรย์เข้มแสง , ที่รู้จักกันเป็นเหตุการณ์คาน , บางส่วนของพลังงานจะกระจายไป แต่บางคนก็ยังดูดภายในตัวอย่างในลักษณะที่ขึ้นอยู่กับเคมีของเหตุการณ์รังสีคานมักจะผลิตจากผู้บริโภคเป้าหมาย แม้ว่า W , Mo , CR และคนอื่น ๆยังสามารถใช้ขึ้นอยู่กับโปรแกรม