SEM analysis was carried out with a

SEM analysis was carried out with a Phillips XL30 microscope
with an energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) probe at an
accelerating voltage of 15 kV. Each specimen was coated with a
thin layer of carbon before analysis.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การวิเคราะห์ SEM ถูกดำเนินการ ด้วยกล้องจุลทรรศน์ XL30 ไขควงด้วยพลังงาน dispersive เอกซเรย์ก (EDS) โพรบที่มีเร่งแรง 15 kV แต่ละตัวอย่างถูกเคลือบด้วยความบางชั้นของคาร์บอนก่อนวิเคราะห์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์ SEM ได้ดำเนินการด้วยกล้องจุลทรรศน์ XL30 ฟิลลิป
ที่มีสเปคโทรกระจายพลังงานรังสีเอกซ์ (EDS) สอบสวนที่
แรงดันเร่ง 15 กิโลโวลต์ ชิ้นงานแต่ละคนได้เคลือบด้วย
ชั้นบาง ๆ ของคาร์บอนก่อนที่จะวิเคราะห์