2.6. Scanning electronic microscopy

2.6. Scanning electronic microscopy (SEM)
The microcomposites were analyzed using a scanning
electron microscope (Jeol JSM 5910 LV, Tokyo, Japan) at

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

2.6 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กทรอนิกส์ (SEM)
microcomposites
วิเคราะห์โดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน(Jeol JSM 5910 LV, กรุงโตเกียวประเทศญี่ปุ่น) ที่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

2.6 การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กทรอนิกส์ ( SEM )

microcomposites วิเคราะห์ข้อมูลโดยใช้การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( Jeol JSM 5910 LV , โตเกียว , ญี่ปุ่น )