A high resolution X-ray photoelectr

A high resolution X-ray photoelectron
spectrometer (XPS) (ESCA pHI 1600, Physical Electronics, Lake
Drive East, Chanhassen, MN, USA) was used to analyze the presence
of the elements on surface of GO, RGO, m-AgNP, and AgNP@RGO/PU
composites.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีความละเอียดสูง X-ray photoelectronสเปกโตรมิเตอร์ (XPS) (พีพี ESCA 1600 อิเล็กทรอนิกส์ทางกายภาพ ทะเลสาบใช้ในการวิเคราะห์สถานะไดรฟ์ตะวันออก Chanhassen, MN สหรัฐอเมริกา)องค์ประกอบบนพื้นผิวไป RGO, m AgNP และ AgNP@RGO/PUคอมโพสิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความละเอียดสูง X-ray โฟโตอิเล็กตรอน
สเปกโตรมิเตอร์ (XPS) (ESCA พี 1600 ทางกายภาพอิเล็กทรอนิกส์, ทะเลสาบ
ไดรฟ์ตะวันออก Chanhassen, MN, USA) ถูกนำมาใช้ในการวิเคราะห์การปรากฏตัว
ขององค์ประกอบบนพื้นผิวของไป RGO, M-AgNP และ AgNP @ RGO / PU
คอมโพสิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความละเอียดสูงเครื่อง X-ray photoelectronสเปกโตรมิเตอร์ ( XPS ) ( เอสคาร์ พี 1600 , อิเล็กทรอนิกส์ , ทะเลสาบทางกายภาพไดรฟ์ตะวันออก chanhassen , MN , USA ) เพื่อวิเคราะห์สถานะขององค์ประกอบบนพื้นผิวของไป rgo m-agnp , และ agnp @ rgo / ปูคอมโพสิต