H-point standard addition method (H

H-point standard addition method (HPSAM), which is a modification
of the standard addition method, is a simple two
variable chemometric technique. The fundamentals of HPSAM
were outlined previously [22]. This method permits both proportional
and constant errors produced by the matrix of the
sample to be corrected directly. HPSAM also makes it possible
to determine the concentration of analyte in the presence
of a direct interferent and even the concentration of interferent
can be determined. This method has been applied in different
analytical techniques, including spectrophotometry [23–26],
spectrofluorimetry [27], kinetic spectrophotometry [28–30] and
chromatographic techniques [31]. More recently, this method has
been applied for simultaneous determination of lead and tin [32],
ceramic materials [33] and pictorial samples [34] using voltammetry
methods. However, we have not found any report on the
application of HPSAM in kinetic data of electroanalytical techniques

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

วิธีเพิ่มมาตรฐานจุด H (HPSAM), ซึ่งเป็นการปรับเปลี่ยนวิธีการเพิ่มมาตรฐาน เป็นง่าย 2เทคนิคการ chemometric ตัวแปร พื้นฐานของ HPSAMได้ระบุไว้ก่อนหน้านี้ [22] วิธีนี้ช่วยให้สัดส่วนทั้งและข้อผิดพลาดคงที่ผลิต โดยเมตริกซ์ของการตัวอย่างการแก้ไขโดยตรง HPSAM ยังทำให้เพื่อกำหนดความเข้มข้นของ analyte ในสถานะแม้แต่ความเข้มข้นของ interferent และ interferent โดยตรงสามารถระบุ วิธีการนี้ได้ถูกใช้ในที่อื่นวิเคราะห์ทางเทคนิค spectrophotometry [23-26],spectrofluorimetry [27], [28-30] เดิม ๆ spectrophotometry และchromatographic เทคนิค [31] เมื่อเร็ว ๆ นี้ วิธีการนี้ได้ใช้สำหรับการกำหนดเวลาของลูกค้าเป้าหมายและดีบุก [32],วัสดุเซรามิก [33] และจำตัวอย่าง [34] ใช้ voltammetryวิธี อย่างไรก็ตาม เรายังไม่พบรายงานใด ๆ ในการแอพลิเคชันของ HPSAM ในข้อมูลเดิม ๆ ของเทคนิค electroanalytical

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

H-จุดนอกจากนี้วิธีการมาตรฐาน (HPSAM) ซึ่งเป็นการปรับเปลี่ยน
วิธีการนอกเหนือจากมาตรฐานเป็นเรื่องง่ายที่สอง
เทคนิค chemometric ตัวแปร พื้นฐานของ HPSAM
ถูกระบุไว้ก่อนหน้านี้ [22] วิธีการนี้จะช่วยให้ทั้งสองสัดส่วน
ข้อผิดพลาดและคงผลิตโดยเมทริกซ์ของ
กลุ่มตัวอย่างที่ได้รับการแก้ไขโดยตรง HPSAM ยังทำให้มันเป็นไปได้
ที่จะตรวจสอบความเข้มข้นของสารในการปรากฏตัว
ของการรบกวนโดยตรงและแม้กระทั่งความเข้มข้นของรบกวน
สามารถกำหนด วิธีการนี้จะมีการใช้ที่แตกต่างกันใน
การวิเคราะห์ทางเทคนิครวมทั้ง spectrophotometry [23-26],
spectrofluorimetry [27], spectrophotometry การเคลื่อนไหว [28-30] และ
เทคนิคโครมา [31] เมื่อเร็ว ๆ นี้วิธีการนี้ได้
ถูกนำมาใช้สำหรับการกำหนดพร้อมกันของตะกั่วและดีบุก [32],
วัสดุเซรามิก [33] และตัวอย่างภาพ [34] โดยใช้ Voltammetry
วิธี อย่างไรก็ตามเรายังไม่พบรายงานใด ๆ ที่เกี่ยวกับ
การประยุกต์ใช้ HPSAM ในข้อมูลเกี่ยวกับการเคลื่อนไหวของเทคนิค electroanalytical

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

h-point โดยวิธีมาตรฐาน ( hpsam ) ซึ่งเป็นวิธีมาตรฐานของการปรับเปลี่ยน
ซึ่งเป็นง่ายสอง
ตัวแปรคีโมเมตริกซ์ ) พื้นฐานของ hpsam
ถูกระบุไว้ก่อนหน้านี้ [ 22 ] วิธีนี้ให้ทั้งสัดส่วน
และข้อผิดพลาดคงที่ที่ผลิตโดยของ
ตัวอย่างเพื่อจะสามารถแก้ไขได้โดยตรง hpsam ยังทำให้มันเป็นไปได้
เพื่อศึกษาความเข้มข้นของครูในการปรากฏตัว
ของ interferent โดยตรงและความเข้มข้นของ interferent
สามารถระบุได้ วิธีการนี้ได้ประยุกต์เทคนิคการวิเคราะห์ต่าง ๆรวมทั้งวิธี [

] 23 – 26 , spectrofluorimetry [ 27 ] [ 28 – 30 , จลนศาสตร์การอบและเทคนิคทางโครมาโทกราฟี ]
[ 31 ] เมื่อเร็วๆ นี้ วิธีนี้มี
ถูกนำมาใช้เพื่อกำหนดพร้อมกันของตะกั่วและดีบุก [ 32 ] [ 33 ]
วัสดุเซรามิกและตัวอย่างภาพ [ 34 ] โดยใช้วิธีโวลแทมเมทรี

แต่เรายังไม่พบรายงานใด ๆในการ hpsam
ข้อมูลทางเทคนิค electroanalytical