Atomic force microscopy (AFM) image

Atomic force microscopy (AFM) images and AFM height profile of
the ridge-like features induced on the surface of the AA5083-O alloy
showing the surface topography of the surface after anodizing in
Barker's reagent are displayed in Fig. 2. The observed ridge-like features
show distinct arrays of ridges which are directly associated with the
orientation of the grains [35]. In Fig. 2c it can be seen that there are
two types of ridges present in the grain of the AA5083-O alloy under

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ภาพแรงอะตอม (AFM) microscopy และ AFM สูงโปรไฟล์ของคุณลักษณะริดจ์เหมือนที่เกิดบนพื้นผิวของโลหะผสม AA5083 Oแสดงภูมิประเทศพื้นผิวของพื้นหลัง anodizing-ในรีเอเจนต์ของบาร์คเกอร์จะแสดงใน Fig. 2 การสังเกตริดจ์ต่าง ๆแสดงว่าอาร์เรย์ของสันเขาที่เชื่อมโยงโดยตรงกับการการวางแนวของธัญพืช [35] ใน Fig. 2 c จะเห็นได้ว่า มีสองชนิดเคลื่อนที่อยู่ในเมล็ดข้าวของโลหะผสม AA5083 โอภายใต้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) ภาพและรายละเอียดสูง AFM
ของคุณสมบัติสันเหมือนเหนี่ยวนำให้เกิดบนพื้นผิวของโลหะผสมAA5083-O,
การแสดงพื้นผิวภูมิประเทศของพื้นผิวหลังจาก anodizing
ในสารของบาร์เกอร์จะปรากฏในรูป 2.
สังเกตคุณสมบัติสันเหมือนแสดงอาร์เรย์ที่แตกต่างของสันเขาที่เกี่ยวข้องโดยตรงกับการวางแนวของธัญพืช
[35] ในรูป 2c
จะเห็นได้ว่ามีสองประเภทของสันเขาอยู่ในเมล็ดของโลหะผสมAA5083-O ภายใต้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) ภาพและ AFM ความสูงโปรไฟล์ของ
สันเขาเหมือนคุณลักษณะที่เกิดบนพื้นผิวของ aa5083-o โลหะผสม
แสดงภูมิประเทศของพื้นผิวของพื้นผิวหลังจาก anodizing
บาร์เกอร์เป็นรีเอเจนต์ในแสดงในรูปที่ 2 สังเกตสันชอบคุณสมบัติ
แสดงอาร์เรย์ของ สันเขาซึ่งแตกต่างกันโดยตรงเกี่ยวข้องกับ
ปฐมนิเทศของธัญพืช [ 35 ] ในฟิค2 จะเห็นได้ว่ามี 2 ประเภท ปัจจุบัน
สันเขา เมล็ดของ aa5083-o โลหะผสมภายใต้