We use area detectors for efficient

We use area detectors for efficient scanning of reciprocal space for diffraction from polycrystalline solids. We have developed unique techniques for quality and orientation analyses of electronic thin films and nanowire surfaces, including visualization of the full diffraction pattern, and real-time scanning of raw pole figures (MAX3D). Quantitative component orientation distribution analyses are performed using Bruker’s Multex Area 3 software. Leptos (Bruker-AXS) is used for residual stress analysis with area detector data. Co radiation is used to eliminate fluorescence from ferrous materials. The new Bruker Vantec500 detector is a zero background, real-time area detector, which allows for high speed, high resolution powder diffraction. We also have low and high temperature accessories - sample temperature range: 90K to 900K, and x-y mapping capabilities.
Bruker D8 Davinci, Vantec 500 area detector, focussed Co/Cu
Bruker Smart6000 CCD, Rigaku parallel-beam Cu rotating anode

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เราใช้พื้นที่ตรวจจับสำหรับประสิทธิภาพการสแกนพื้นที่กันและสำหรับการเลี้ยวเบนจากของแข็งค เราได้พัฒนาเทคนิคเฉพาะสำหรับวิเคราะห์คุณภาพและการวางแนวของฟิล์มบางอิเล็กทรอนิกส์และพื้นผิว nanowire ภาพแสดงการเลี้ยวเบนแบบเต็มรูปแบบ และการสแกนแบบเรียลไทม์ของขั้วดิบตัวเลข (MAX3D) วิเคราะห์เชิงปริมาณส่วนประกอบแนวการกระจายจะดำเนินการโดยใช้ซอฟต์แวร์ของ Bruker Multex ตั้ง 3 Leptos (Bruker AXS) ใช้สำหรับการวิเคราะห์ความเครียดเหลือตั้งเครื่องตรวจจับข้อมูล บริษัทรังสีใช้กำจัด fluorescence จากวัสดุเหล็ก เครื่องตรวจจับ Bruker Vantec500 ใหม่คือ ศูนย์พื้นหลัง จับเวลาจริงตั้ง ซึ่งทำให้ความเร็วสูง ความละเอียดสูงผงการเลี้ยวเบน นอกจากนี้เรายังมีอุณหภูมิต่ำ และสูงอุปกรณ์ - ตัวอย่างอุณหภูมิ: 90K 900K และ x-y แม็ปความสามารถ.
Bruker D8 ดาวินชี่ Vantec 500 ตั้งเครื่องตรวจจับ focussed Co/Cu
Bruker Smart6000 CCD, Rigaku ลำแสงขนาน Cu หมุนแอโนด

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เราใช้เครื่องตรวจจับพื้นที่ที่มีประสิทธิภาพการสแกนของกฎแห่งกรรมพื้นที่สำหรับการเลี้ยวเบนจากผลึกของแข็ง เราได้พัฒนาเทคนิคที่ไม่ซ้ำกันสำหรับคุณภาพและแนวการวิเคราะห์ฟิล์มบางอิเล็กทรอนิกส์และพื้นผิว nanowire รวมถึงการแสดงของรูปแบบการเลี้ยวเบนเต็ม และแบบเรียลไทม์ การสแกนของตัวเลขเสาดิบ ( max3d )ส่วนปริมาณการกระจายการวิเคราะห์การใช้พื้นที่ multex BRUKER 3 ซอฟต์แวร์ leptos ( BRUKER ขวาน ) ใช้สำหรับการวิเคราะห์ความเค้นตกค้างกับข้อมูลตรวจวัดพื้นที่ ใช้กำจัดสารรังสี Co วัสดุเหล็ก . ใหม่ vantec500 BRUKER เครื่องตรวจจับเป็นศูนย์พื้นหลัง , เครื่องตรวจจับพื้นที่แบบเรียลไทม์ ซึ่งจะช่วยให้ความเร็วสูงผงละเอียดสูงการเลี้ยวเบน เรายังมีน้อย และอุปกรณ์เสริม - อุณหภูมิสูงอุณหภูมิตัวอย่าง : 90k ถึง 9 แสน และ x-y การทำแผนที่ความสามารถ .
BRUKER d8 Davinci vantec 500 , เครื่องตรวจจับพื้นที่เน้น Co / CU
BRUKER smart6000 CCD , rigaku ขนานคานหมุนขั้วบวกลบ