ATE is widely used to perform devic

ATE is widely used to perform device functional and parametric tests at the back-end of the semiconductor manufacturing process.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

กินเป็นใช้ทำอุปกรณ์ทำงาน และพาราเมตริกทดสอบที่ส่วนหลังของสารกึ่งตัวนำกระบวนการผลิต

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กินใช้กันอย่างแพร่หลายในการดำเนินการทดสอบอุปกรณ์การทำงานและตัวแปรที่ปลายด้านหลังของกระบวนการผลิตเซมิคอนดักเตอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กินเป็นใช้กันอย่างแพร่หลายเพื่อแสดงอุปกรณ์การทำงานและทดสอบพารามิเตอร์ที่ส่วนหลังของสารกึ่งตัวนำการผลิต