Automatic divergence slitswere used

Automatic divergence slitswere used both in primary and
diffracted beam in order to achieve constant irradiated area
during measurement (5 × 8 mm2.) In front of the PiXCel
detector (in scanning mode), Soller slits (0.04 rad divergence)
and a beta-filter (Ni) were placed.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ใช้ slitswere divergence อัตโนมัติทั้งในหลัก และ
diffracted คานเพื่อคง irradiated ตั้ง
ระหว่างวัด (5 × 8 มม 2 ได้ภาย) หน้า PiXCel
(ในโหมดสแกน), Soller slits (0.04 rad divergence)
และเบต้าตัว (Ni) ถูกวาง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โดยอัตโนมัติ slitswere แตกออกไปใช้ทั้งในหลักและ
diffracted ลำแสงในการที่จะบรรลุคงที่ irradiated บริเวณ
ซึ่งจะช่วยในการวัด( 5 × 8 mm2 )ในบริเวณด้านหน้าของที่ pixcel
อุปกรณ์ตรวจจับ(ในโหมดการสแกน), soller หรี่ปรือตลอดศกเหมือน( 0.04 ประชาราษฎร์แตกออกไป)
และเบต้า - แผ่นกรอง(นิการากัว)ได้วางไว้.