The crystalline structure and surfa

The crystalline structure and surface morphology of ZnO seed layers were measured by X-ray diffraction (XRD) (Bruker, D8, Advance) and atom force microscope (AFM).

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โครงสร้างผลึกและสัณฐานวิทยาพื้นผิวของซิงค์ออกไซด์ชั้นเมล็ดถูกวัดโดย X-ray diffraction (XRD) (Bruker, D8, ล่วงหน้า) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ผลึกโครงสร้างและลักษณะพื้นผิวของชั้นเมล็ดพันธุ์ ZnO เป็นวัดโดยการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ ( BRUKER d8 , ล่วงหน้า ) และกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM )