and examined under a Leica microsco

and examined under a Leica microscope
(Leica image analyzer, Model Q 550IW equipped with Leica
DMLB microscope Cambridge, England. Connected to Camera,
Model TK-C1380 JVC, Victor Company, Japan) calibrated with a
micrometer slide using polarized light or differential interference
contrast at magnifications between 10 and 100.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

และตรวจสอบภายใต้กล้องจุลทรรศน์ไล
(ไลรูปวิเคราะห์ Q รุ่น 550IW พร้อมไล
DMLB กล้องจุลทรรศน์เคมบริดจ์ อังกฤษ เชื่อมต่อกับกล้อง,
รุ่น TK C1380 JVC บริษัทวิคเตอร์ ญี่ปุ่น) ปรับเทียบกับ
ภาพนิ่งไมโครมิเตอร์ที่ใช้ขั้วสัญญาณรบกวนไฟ หรือส่วนที่แตกต่าง
ความแตกต่างที่ขนาดระหว่าง 10 ถึง 100

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

และตรวจสอบภายใต้กล้องจุลทรรศน์ Leica
(วิเคราะห์ภาพ Leica รุ่น Q 550IW พร้อมกับ Leica
DMLB กล้องจุลทรรศน์เคมบริดจ์อังกฤษ. เชื่อมต่อกับกล้อง
รุ่น TK-C1380 JVC วิคเตอร์ บริษัท ญี่ปุ่น) เทียบกับ
สไลด์ไมโครเมตรโดยใช้คลื่นแสงหรือความแตกต่างการรบกวน
ความคมชัด ที่กำลังขยายระหว่าง 10 และ 100?

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และตรวจสอบภายใต้กล้องจุลทรรศน์ Leica
( วิเคราะห์ภาพ Leica รุ่น Q 550iw พร้อมกับ Leica
dmlb กล้องจุลทรรศน์เคมบริดจ์ ประเทศอังกฤษ เชื่อมต่อกับกล้อง
รูปแบบ tk-c1380 JVC , บริษัทวิคเตอร์ ญี่ปุ่น ) เทียบกับ
ไมโครมิเตอร์ใช้ขั้วไฟหรือสไลด์ดิฟรบกวน
ความคมชัดที่ magnifications ระหว่าง 10 และ 100  .