Additional refined parameters in th

Additional refined parameters in the basis functions Gc(2θ) are the sample–detector distance and some peak profile parameters (e.g. Gaussian peak widths). The fitted scaling factors are proportional to the amount of scattering material irradiated, and the sinograms Sc(x, ω) give rise to phase distribution maps gc(x, y) in the tomographic plane.
The XRF background spectra B(E) and the diffraction background profiles B(2θ) can be described by means of a sum of orthogonal polynomial terms or subtracted from the original data by means of a peak-stripping algorithm.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พารามิเตอร์การกลั่นเพิ่มเติมในฟังก์ชั่นพื้นฐาน Gc (2θ) เป็นระยะตรวจจับตัวอย่างและบางพารามิเตอร์ละเอียดสูงสุด (เช่นความกว้างสูงสุดเสียน) ปัจจัยการปรับติดตั้งอยู่เป็นสัดส่วนกับปริมาณของวัสดุการกระเจิงรังสีและ sinograms Sc (x, ω) ก่อให้เกิดขั้นตอนการกระจายแผนที่ GC (x, y) ในระนาบ tomographic.
สเปกตรัมพื้นหลัง XRF B (E) และ โปรไฟล์พื้นหลังการเลี้ยวเบน B (2θ) สามารถอธิบายได้ด้วยความหมายของผลรวมของข้อตกลงพหุนามมุมฉากหรือหักออกจากข้อมูลเดิมโดยวิธีการของอัลกอริทึมยอดปอก

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพิ่มพารามิเตอร์ในฟังก์ชันการกลั่นพื้นฐาน GC ( 2 θ ) ตัวอย่าง–เครื่องตรวจจับระยะทางและบางพารามิเตอร์ ( เช่นยอดโปรไฟล์เสียนสูงสุดความกว้าง ) การติดตั้งการปรับปัจจัยจะเป็นสัดส่วนกับปริมาณของวัสดุที่ผ่านการฉายรังสี และ sinograms SC ( x , ω ) ให้สูงขึ้นเพื่อระยะแจกจ่ายแผนที่ GC ( x , y ) ในเครื่องบิน tomographic .
พื้นหลังแสง XRF B ( E ) และรูปพื้นหลังโปรไฟล์ B ( 2 θ ) สามารถอธิบายได้โดยใช้ผลรวมของพหุนามเชิงตั้งฉาก เงื่อนไขหรือหักออกจากข้อมูลต้นฉบับ โดยจุดสูงสุดของปอก