GIXRD (Shimadzu XRD 6000) was perfo

GIXRD (Shimadzu XRD 6000) was performed with 2° incidence angle, enabling phase identification of the uppermost 600 nm of the sample. The GIXRD patterns were interpreted by comparison with the cards of the Powder Diffraction File™ (PDF) from the International Center for Diffraction Data (ICDD®). Riet veld analysis was performed with the FullProf Suite software [19].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

GIXRD (Shimadzu XRD 6000) ทำ ด้วยมุมองศา 2 อุบัติการณ์ การเปิดใช้งานระบุระยะ 600 สูงสุด nm ของตัวอย่าง รูปแบบ GIXRD ได้แปล by comparison with บัตรของ™ผงการเลี้ยวเบนไฟล์ (PDF) จากศูนย์นานาชาติสำหรับข้อมูลการเลี้ยวเบน (ICDD ®) วิเคราะห์ veld Riet ที่ดำเนินการกับซอฟต์แวร์ FullProf ท [19]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

GIXRD (Shimadzu XRD 6000) ได้ดำเนินการกับ 2 องศาอุบัติการณ์ที่ช่วยให้การระบุขั้นตอนของสุดยอด 600 นาโนเมตรของกลุ่มตัวอย่าง รูปแบบ GIXRD ถูกตีความโดยเปรียบเทียบกับบัตรของผงเลนส์ไฟล์™ (PDF) จากศูนย์ระหว่างประเทศเพื่อการเลี้ยวเบนข้อมูล (ICDD®) การวิเคราะห์ veld Riet ได้ดำเนินการกับซอฟต์แวร์ FullProf สวีท [19]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

gixrd ( Shimadzu XRD 6000 ) คือการตรวจสอบการเปิดตัว 2 มุมเฟสของบนสุด 600 nm ของตัวอย่าง การ gixrd รูปแบบถูกตีความโดยเปรียบเทียบกับการ์ดของเลนส์แป้ง™ ( PDF ) ไฟล์จากศูนย์ข้อมูลระหว่างเลนส์ ( icdd ® ) การวิเคราะห์ riet เวลด์ได้ด้วย fullprof ชุดซอฟต์แวร์ [ 19 ]