Electron Microscopy. After the PLM

Electron Microscopy. After the PLM experiment, we used the same thin section of the sample for the SEM
experiment. In order to lower surface charging of the sample, it was sputtered with carbon prior to the SEM
experiment. We used a JEOL-JSM-6060LV scanning electron microscope from Jeol, Eching, Germany with an
acceleration voltage of 10 kV. Several images of each grain were collected with a back-scattered electron detector at
different magnification factors reaching from 15 up to 2000. The SEM images of Fig. 4 in the main text and Fig. S1
of the supplementary information were acquired with a magnification of 2000 while the SEM images in Fig. S2 of
the supplementary information show the grains with a magnification of 200.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ชาวดัตช์ หลังจากทดลอง PLM เราใช้ส่วนเดียวกันบางตัวอย่างสำหรับการ SEMทดสอบ เพื่อลดผิวชาร์จของตัวอย่าง มันถูก sputtered กับคาร์บอนก่อน SEMทดสอบ เราใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด JEOL-JSM-6060LV จาก Jeol, Eching เยอรมนีด้วยการเร่งดัน 10 kV หลายภาพของธัญพืชแต่ละถูกจัดเก็บ ด้วยเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนกระจายอยู่กลับมาที่กำลังขยายที่แตกต่างกันปัจจัยที่เข้าถึงจาก 15 ถึง 2000 ภาพ SEM ของ 4 รูปในข้อความหลักและมะเดื่อ S1ข้อมูลเสริมได้รับมา มีกำลังขยาย 2000 ในขณะที่ภาพ SEM ในมะเดื่อ S2 ของเอกสารประกอบการแสดงธัญพืชกับขยาย 200

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน หลังการทดลอง PLM เราใช้บางส่วนของกลุ่มตัวอย่างเดียวกันสำหรับ SEM
ทดลอง เพื่อที่จะลดการชาร์จพื้นผิวของตัวอย่างมันก็พ่นคาร์บอนก่อนที่จะ SEM
ทดลอง เราใช้ JEOL JSM-6060LV-กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจาก Jeol, เอชิงเยอรมนีที่มี
แรงดันไฟฟ้าเร่งความเร็ว 10 กิโลโวลต์ ภาพหลายภาพของแต่ละเม็ดที่ถูกเก็บรวบรวมด้วยเครื่องตรวจจับอิเล็กตรอนกลับกระจายที่
ปัจจัยที่แตกต่างกันถึงการขยายตั้งแต่ 15 ถึง 2000 SEM ภาพของรูป 4 ในข้อความหลักและรูป S1
ข้อมูลเสริมที่ได้มาด้วยการขยายของปี 2000 ในขณะที่ภาพ SEM ในมะเดื่อ S2 ของ
ข้อมูลเสริมแสดงธัญพืชที่มีกำลังขยาย 200

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน หลังจากทดลองใช้ผลิตภัณฑ์เรา ส่วนบางเดียวกันของตัวอย่างสำหรับ SEMทดลอง เพื่อลดประจุพื้นผิวของตัวอย่างมัน sputtered กับก่อนที่จะจากคาร์บอนทดลอง เราใช้ jeol-jsm-6060lv กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจากจอล eching เยอรมนีด้วย ,เร่งแรงดัน 10 kV . หลายๆ ภาพของเมล็ดแต่ละวัตถุประสงค์กลับกระจัดกระจายตรวจจับอิเล็กตรอนที่ปัจจัยการขยายที่แตกต่างกันถึง 15 ถึง 2000 รูปที่ 4 ภาพที่ SEM ในข้อความหลักและมะเดื่อ S1ข้อมูลเพิ่มเติมได้มาด้วยการขยายของ 2000 ในขณะที่ SEM ภาพในรูปของ S2ข้อมูลเพิ่มเติมแสดงธัญพืชที่มีการขยายของ 200