Security holograms are perspective

Security holograms are perspective for document and product authenticity protection due to diƥculties of suucch a protection mark falsi¿cation. The quality of security holograms and master-matrices signi¿cantly depends on perfection of difffraction grating. We represent the quality inspection method of security hologram based on indirect measurements of diffractionn grating parameters. The theoretical results of our method application for quality inspection are shown in this paper.
© 2015 The Authors. Published by Elsevier B.V. This is an open access article under the CC BY-NC-ND license © 2015 The Authors. Published by Elsevier B.V.
(Peerhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/-review under responsibility of the National ). Research Nuclear University MEPhI (Moscow Engineering PPhysics Institute). Peer-review under responsibility of the National Research Nuclear University MEPhI (Moscow Engineering Physics Institute) Keywords: security holograms; master-matrix; quality inspection; diffraction grating.

Application of security holograms (SH) for document, product or authority protection is widelly used around the globe as shown by Zlokazov E.Yu., Starikov R.S., Odinokov S.B. et al (2013). High security levell of SH is achieved by unique design of holographic images that combine complex 3D scenes with such a security feaatures as concealed images and microtext, kinetic effects, hidden laser readable images etc. Mass production of SH uutilizes widespread technique of hot foil or lavsan paper stamping with the use of nickel master-matrix. The relieff of master-matrix represents pixel structure of diffraction patterns with the grating period of up to 0.8ȝm. Riffling oof such a structure requires application of specialized and technologically advanced lithography equipment. Thus, thhe forgery of SH is next to impossible.
The quality of mass produced SH is basically depends on ideality of master-matrix that iss used in pressing

equipment. Defects and relief distortions caused by elastic deformation during copying, excessive ware and mechanical damage of master-matrix lead to degradation of holographic image and loss of its unique security features. Thus the problem of prior master-matrix quality inspection causes a special interest of SH mass manufacturers.
The purpose of this work is to develop a method to carry out an objective assessment about the quality of the master-matrix of security holograms.
Currently, there is no consensus for approaches to assessing the quality of security holograms. Assuming that quality inspection carried out on selected areas of security holograms design, the inspection can be reduced to the measurement of the following parameters of the diffraction grating:
- spatial frequency Ȟ;
- grating depth d;
- number of periods in the grating N; - grating orientation ij.
Due to the period of gratings has a value of about 1 μm, the method based on direct measurement of the diffraction gratings parameters can be used. Such parameters as profile shape, spatial frequency and grating depth can be directly measured with the microscope. However, the disadvantage of this method is labor intensity and duration of the grating parameters measurement.
An alternative to this method is an indirect method of measurement. It is known that:
1) For a given value of wavelength the intensity distribution I over the diffraction orders of the phase grating depends on the grating depth d.
2) For a given value of the incidence wavefront angle, the value of diffraction orders angles depends on the value of the spatial frequency.
3) The orientation of the plane in which there are positive and negative diffraction orders depends on the orientation diffraction grating ij.
4) Angular size of the diffraction orders (or angular selectivity) depends on the number of periods in the grating N.
Therefore, with measuring the value of the intensity distribution, the orientation of the plane and the angular size of the diffraction orders we can uniquely estimate the parameters of the grating.
2. Diffraction in the reflective phase grating
Known mathematical expressions describing within the scalar theory of diffraction process in the reflective phase grating as described by M. Born, E. Wolf (1973) and A.M. Khorokhorov, A.M. Klishyuk et al (2005). Fig. 1 explains the occurrence of phase shift in the diffraction on the sinusoidal reflective grating.
The equation of the phase grating surface can be represented as

where A and T – the amplitude and the period of the sinusoidal profile, respectively.
In accordance with the Huygens-Fresnel principle, each point of the incident wavefront, becoming a source of secondary waves, creates in the observation direction the wave whose amplitude is equal to

where U0 – constant, proportional to the amplitude of the incident wave, k 2SO – wavenumber, ǻɯ – optical
path difference between the beams 1 and 2 diffracted from the grating, N – number of periods in the grating.

3. The results of calculations
Using a mathematical model based on the approximation of the scalar diffraction theory, the calculations and the relationship between intensity distribution I and grating depth d are obtained. The obtained relationships are represented in graphs.

The Fig. 2 illustrates the distribution of the intensity component I2 in the orders of diffraction within number of periods in the grating of 10 and an emission wavelength of 600 nm.
The Fig. 3 and the Fig. 4 illustrate the graphs of the relationship between intensity distribution I in the first order of diffraction and grating depth d for normal incidence of radiation. The relationships are represented for incident radiation with wavelengths of 400, 500, 600, 650 and 700 nm and within grating period ܶ ൌ ͳǡͷ um and ܶ ൌ ͳ um.
The Fig. 5 illustrates the graphs of the relationship between the angular selectivity of the first-order diffraction ߚ߂ and the number of periods in the grating N for incident radiation angle ߙ of 0, 20º, 40º and 70º. This graph shows the angular selectivity decreases with increasing the number of periods in the grating.
The Fig. 6 illustrates the graphs of the relationship between the angular selectivity of the first-order diffraction ߚ߂ and the incident radiation angle ߙ for number of periods in the grating N of 10, 40, 70 and 100. This graph shows the angular selectivity decreases with increasing the incident radiation angle ߙ up to 40º, and then the angular size increases.

4. Conclusions
The research was carried out at BMSTU. This work was supported by a grant of the main part of the state order "Organization of scientific research" and project # 3.1426.2014K from the Ministry of Education and Science of the Russian Federation.
Acknowledgments
The research was carried out at BMSTU. This work was supported by a grant of the main part of the state order "Organization of scientific research" and project # 3.1426.2014K from the Ministry of Education and Science of the Russian Federation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มุมมองเอกสารและผลิตภัณฑ์แท้คุ้มครองเนื่องจาก diƥculties ของ suucch falsi¿cation ความหมายป้องกันความปลอดภัยไมโครซอฟท์ได้ คุณภาพความปลอดภัยไมโครซอฟท์และเมทริกซ์หลัก signi¿cantly ขึ้นอยู่กับความสมบูรณ์แบบของลูกกรง difffraction เราเป็นตัวแทนวิธีการตรวจสอบคุณภาพของโฮโลแกรมความปลอดภัยตามวัดทางอ้อมของ grating พารามิเตอร์ diffractionn มีแสดงผลทฤษฎีการประยุกต์วิธีการของเราสำหรับการตรวจสอบคุณภาพในเอกสารนี้ © 2015 ผู้เขียน เผยแพร่ โดย Elsevier b.v นี่คือบทความเข้าเปิดภายใต้ผู้สร้างลิขสิทธิ์ © 2015 BY NC ND CC เผยแพร่ โดย Elsevier b.v (Peerhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/-review ภายใต้ความรับผิดชอบของชาติ) วิจัยนิวเคลียร์มหาวิทยาลัย MEPhI (มอสโกวิศวกรรม PPhysics สถาบัน) เพียร์ทบทวนภายใต้ความรับผิดชอบสำคัญแห่งชาติวิจัยนิวเคลียร์มหาวิทยาลัย MEPhI (มอสโกวิศวกรรมฟิสิกส์ สถาบัน): ความปลอดภัยไมโครซอฟท์ หลักเมตริกซ์ ตรวจสอบคุณภาพ การเลี้ยวเบน grating แอพพลิเคชันของไมโครซอฟท์ความปลอดภัย (SH) สำหรับการป้องกันเอกสาร ผลิตภัณฑ์ หรือหน่วยงานเป็น widelly ที่ใช้ทั่วโลกเป็นแสดง โดย Zlokazov E.Yu อาร์ เอส Starikov, Odinokov เอสบี et al (2013) รับความปลอดภัยสูง levell ของดี โดยเฉพาะการออกแบบภาพโฮโลแกรมที่รวมฉาก 3D ที่ซับซ้อน ด้วยเช่นการรักษาความปลอดภัย feaatures เป็นภาพปกปิดและ microtext ลักษณะเดิม ๆ ซ่อนรูปอ่านเลเซอร์ฯลฯ การผลิตมวล SH uutilizes เทคนิคแพร่หลายร้อนฟอยล์หรือ lavsan กระดาษปั๊มใช้นิกเกิลหลักเมตริกซ์ Relieff ของเมทริกซ์หลักแทนพิกเซลโครงสร้างของรูปแบบการเลี้ยวเบนกับระยะ grating ถึง 0.8ȝm Riffling oof โครงสร้างต้องใช้อุปกรณ์พิเศษ และมอบภาพพิมพ์หิน , Thhe ปลอมของดีจึงต่อไปไม่ คุณภาพของการผลิตโดยรวมดีเป็นพื้นขึ้นอยู่กับ ideality เมทริกซ์หลัก iss ที่ใช้กด อุปกรณ์ ข้อบกพร่องและเกิดจากแมพยืดหยุ่นในระหว่างการคัดลอก พัสดุมากเกินไปและความเสียหายทางกลของเมทริกซ์ต้นแบบนำไปสร้างภาพโฮโลแกรมและสูญเสียคุณสมบัติความบิดเบือนในการบรรเทาทุกข์ ดังนั้น ปัญหาของการตรวจสอบคุณภาพเมทริกซ์หลักก่อนหน้าทำให้ประโยชน์ของผู้ผลิตโดยรวมดี วัตถุประสงค์ของงานนี้คือการ พัฒนาวิธีการดำเนินการประเมินวัตถุประสงค์เกี่ยวกับคุณภาพของเมทริกซ์หลักของไมโครซอฟท์ความปลอดภัย ในปัจจุบัน มีมติไม่สำหรับแนวทางการประเมินคุณภาพของความปลอดภัยไมโครซอฟท์ สมมติว่าตรวจสอบคุณภาพดำเนินการในพื้นที่ที่เลือกของการออกแบบความปลอดภัยไมโครซอฟท์ ตรวจสอบจะลดลงการวัดพารามิเตอร์ของ grating การเลี้ยวเบนดังต่อไปนี้: -ความถี่ปริภูมิȞ -grating ความลึก d -หมายเลขของ grating N -grating แนว ij แค เนื่องจากระยะของ gratings ผ่านความพยายามมีค่าประมาณ 1 μm สามารถใช้วิธียึดโดยตรงการวัดพารามิเตอร์ gratings ผ่านความพยายามของการเลี้ยวเบน เช่นพารามิเตอร์รูปโปรไฟล์ ปริภูมิความถี่ และความลึกของ grating สามารถจะวัด ด้วยกล้องจุลทรรศน์โดยตรง อย่างไรก็ตาม ข้อเสียของวิธีนี้คือ แรงงานเข้มข้นและระยะเวลาของ grating ที่วัดพารามิเตอร์ ทางเลือกวิธีนี้เป็นวิธีการทางอ้อมในการประเมิน เป็นที่รู้จักกันที่: 1) สำหรับการกำหนดค่าความยาวคลื่นการกระจายความเข้ม ผมมากกว่าสั่งการเลี้ยวเบนของระยะลูกกรงขึ้นอยู่กับความลึก grating d 2) การกำหนดค่ามุมส่งอุบัติการณ์ ค่าของมุมการเลี้ยวเบนใบสั่งขึ้นอยู่กับค่าของความถี่ในปริภูมิ 3) การวางแนวของเครื่องบินที่มีการเลี้ยวเบนที่บวก และลบขึ้นอยู่กับ ij แค grating การเลี้ยวเบนแนว 4) ขนาดแองกูลาร์ของใบสั่งการเลี้ยวเบน (หรือวิธีแองกูลาร์) ขึ้นอยู่กับจำนวนของ grating N. ดังนั้น ด้วยการวัดค่าของการกระจายความเข้ม การวางแนวของเครื่องบินและขนาดของการเลี้ยวเบนที่แองกูลาร์สั่งเราโดยเฉพาะสามารถประเมินพารามิเตอร์ของ grating ที่ 2. การเลี้ยวเบนใน grating ระยะสะท้อนแสง เรียกนิพจน์ทางคณิตศาสตร์ที่อธิบายในทฤษฎีสเกลาของกระบวนการเลี้ยวเบนใน grating ระยะสะท้อนแสงตามที่อธิบายไว้ โดย บอร์นเมตร อีหมาป่า (1973) Khorokhorov น. น. Klishyuk et al (2005) Fig. 1 อธิบายการกะระยะในการเลี้ยวเบนที่เกิดบน grating สะท้อน sinusoidal สามารถแสดงสมการของระยะ grating พื้นผิวเป็น ที่ A และ T – คลื่นและระยะเวลาของโพรไฟล์ sinusoidal ตามลำดับ ตามหลักการหลักการของ Fresnel แต่ละจุดของส่งเหตุการณ์ เป็น คลื่นรอง แหล่งสร้างในทิศทางที่สังเกตคลื่นคลื่นซึ่งมีค่าเท่ากับ ที่ U0 wavenumber –ค่าคง สัดส่วนกับความกว้างของคลื่นเหตุการณ์ k 2SO- ǻɯ-แสง เส้นทางที่ความแตกต่างระหว่างการคาน 1 และ 2 diffracted จากที่ grating, N-จำนวนรอบในการ grating 3. ผลลัพธ์ของการคำนวณ โดยใช้แบบจำลองทางคณิตศาสตร์ตามประมาณการเลี้ยวเบนสเกลาทฤษฎี การคำนวณ และความสัมพันธ์ระหว่างการกระจายความเข้มลึก grating d และฉันจะได้รับ ความสัมพันธ์ที่ได้รับจะถูกแสดงในกราฟ Fig. 2 แสดงการกระจายของส่วนประกอบเข้มข้น I2 ในใบสั่งของการเลี้ยวเบนในหมายเลขของ grating 10 และความยาวคลื่นการเล็ดรอดของ 600 nm Fig. 3 และ Fig. 4 แสดงกราฟของความสัมพันธ์ระหว่างการกระจายความเข้มของฉันในลำดับแรกของการเลี้ยวเบนและ grating ความลึก d สำหรับรังสีปกติเกิด ความสัมพันธ์จะถูกแสดงสำหรับรังสีเหตุการณ์กับความยาวคลื่น 400, 500, 600, 650 และ 700 nm และ grating รอบܶൌͳǡͷอุ่มและܶൌͳอุ่ม Fig. 5 แสดงกราฟของความสัมพันธ์ระหว่างวิธีแองกูลาร์ของߚ߂แรกสั่งการเลี้ยวเบนและหมายเลขของ grating N สำหรับเหตุการณ์รังสีมุมߙ 0, 20º, 40º และ 70º กราฟนี้แสดงวิธีแองกูลาร์ลด ด้วยการเพิ่มจำนวนของ grating ที่ Fig. 6 แสดงกราฟของความสัมพันธ์ระหว่างวิธีแองกูลาร์ของߚ߂แรกสั่งการเลี้ยวเบนและߙมุมรังสีเหตุการณ์สำหรับหมายเลขของ grating N 10, 40, 70 และ 100 กราฟนี้แสดงวิธีแองกูลาร์ลด มีเพิ่มߙมุมรังสีเหตุการณ์ถึง 40º และจากนั้น การเพิ่มขึ้นของขนาดแองกูลาร์ 4. บทสรุป งานวิจัยที่ดำเนินที่ BMSTU งานนี้ได้รับการสนับสนุน โดยเงินทุนส่วนหนึ่งหลักของรัฐสั่ง "องค์กรวิจัยทางวิทยาศาสตร์" และโครงการ# 3.1426.2014K จากกระทรวงศึกษาธิการและวิทยาศาสตร์ของประเทศรัสเซีย ตอบ งานวิจัยที่ดำเนินที่ BMSTU งานนี้ได้รับการสนับสนุน โดยเงินทุนส่วนหนึ่งหลักของรัฐสั่ง "องค์กรวิจัยทางวิทยาศาสตร์" และโครงการ# 3.1426.2014K จากกระทรวงศึกษาธิการและวิทยาศาสตร์ของประเทศรัสเซีย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

โฮโลแกรมที่มีมุมมองของการรักษาความปลอดภัยสำหรับเอกสารและการป้องกันความถูกต้องอันเนื่องมาจากผลิตภัณฑ์ของ suucch diƥcultiesfalsi¿cationเครื่องหมายป้องกัน คุณภาพของโฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัยและการฝึกอบรมหลัก-signi¿cantlyขึ้นอยู่กับความสมบูรณ์แบบของ difffraction ตะแกรง เราเป็นตัวแทนของวิธีการตรวจสอบคุณภาพของการรักษาความปลอดภัยโฮโลแกรมบนพื้นฐานของการวัดทางอ้อมของพารามิเตอร์ตะแกรง diffractionn ผลทางทฤษฎีของการประยุกต์ใช้วิธีการของเราสำหรับการตรวจสอบคุณภาพที่แสดงอยู่ในเอกสารนี้.
© 2015 ผู้เขียน จัดทำโดย Elsevier BV นี่คือบทความที่เปิดภายใต้ใบอนุญาต CC BY-NC-ND © 2015 ผู้เขียน จัดทำโดย Elsevier BV
(Peerhttp: //creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/-review ภายใต้ความรับผิดชอบแห่งชาติ) มหาวิทยาลัยวิจัยนิวเคลียร์ MEPhI (มอสโกวิศวกรรม PPhysics สถาบัน) ทบทวนภายใต้ความรับผิดชอบของมหาวิทยาลัยวิจัยแห่งชาตินิวเคลียร์ MEPhI (มอสโกสถาบันฟิสิกส์วิศวกรรม) คำสำคัญ: โฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัย ต้นแบบเมทริกซ์; การตรวจสอบคุณภาพ การเลี้ยวเบนตะแกรง. การประยุกต์ใช้โฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัย (SH) เอกสารผลิตภัณฑ์หรือป้องกันผู้มีอำนาจจะใช้ widelly ทั่วโลกที่แสดงโดย Zlokazov E.Yu. อาร์เอส Starikov, Odinokov SB, et al (2013) รักษาความปลอดภัยสูง levell ของ SH จะทำได้โดยการออกแบบที่เป็นเอกลักษณ์ของภาพโฮโลแกรมที่รวมฉาก 3 มิติที่ซับซ้อนด้วยเช่น feaatures การรักษาความปลอดภัยเป็นภาพที่มองไม่เห็นและ microtext ผลการเคลื่อนไหว, ภาพที่สามารถอ่านได้ที่ซ่อนเลเซอร์ ฯลฯ การผลิตของ SH uutilizes เทคนิคอย่างแพร่หลายของฟอยล์ร้อนหรือ lavsan กระดาษปั๊มที่มีการใช้นิกเกิลต้นแบบเมทริกซ์ relieff ของนายแมทริกซ์แสดงให้เห็นถึงโครงสร้างของรูปแบบพิกเซลเลนส์กับช่วงเวลาตะแกรงถึง0.8ȝm Riffling OOF โครงสร้างดังกล่าวต้องใช้อุปกรณ์เฉพาะพิมพ์หินและเทคโนโลยีขั้นสูง ดังนั้นการปลอมแปลง thhe ของ SH เป็นไปไม่ได้เลย. คุณภาพของผลิตมวล SH จะขึ้นอยู่กับพื้น ideality ของนายแมทริกซ์ที่สถานีอวกาศนานาชาติที่ใช้ในการกดอุปกรณ์ ข้อบกพร่องและการบิดเบือนความโล่งใจที่เกิดจากความผิดปกติในระหว่างการคัดลอกยืดหยุ่นเครื่องมากเกินไปและความเสียหายทางกลของตะกั่วต้นแบบเมทริกซ์ในการย่อยสลายของภาพสามมิติและการสูญเสียคุณสมบัติด้านความปลอดภัยที่เป็นเอกลักษณ์ ดังนั้นปัญหาที่เกิดจากการตรวจสอบคุณภาพต้นแบบเมทริกซ์ก่อนที่ทำให้เกิดความสนใจเป็นพิเศษของผู้ผลิตมวล SH. the วัตถุประสงค์ของงานนี้คือการพัฒนาวิธีการที่จะดำเนินการประเมินวัตถุประสงค์เกี่ยวกับคุณภาพของต้นแบบเมทริกซ์ของโฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัย. ปัจจุบันมี มติสำหรับวิธีการประเมินคุณภาพของโฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัยไม่มี สมมติว่าการตรวจสอบคุณภาพดำเนินการในพื้นที่ที่เลือกของการออกแบบโฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัยการตรวจสอบสามารถลดการวัดพารามิเตอร์ต่อไปนี้ของตะแกรงเลี้ยวเบนไปนี้: - Ȟความถี่เชิงพื้นที่- d ลึกตะแกรง; - จำนวนของระยะเวลาในตะแกรงไม่มี; -. ตะแกรงวางแนวทางเจเนื่องจากระยะเวลาของการgratings มีค่าประมาณ 1 ไมโครเมตรวิธีการที่อยู่บนพื้นฐานของการวัดโดยตรงของ gratings เลนส์พารามิเตอร์ที่สามารถนำมาใช้ พารามิเตอร์เช่นรูปร่างรายละเอียดความถี่เชิงพื้นที่และเชิงลึกตะแกรงสามารถวัดได้โดยตรงกับกล้องจุลทรรศน์ แต่ข้อเสียของวิธีนี้คือความเข้มแรงงานและระยะเวลาของพารามิเตอร์ตะแกรงวัด. ทางเลือกที่จะใช้วิธีการนี้เป็นวิธีการทางอ้อมของการวัด เป็นที่รู้จักกันว่า1) สำหรับค่าที่กำหนดความยาวคลื่นกระจายความเข้มที่ฉันมากกว่าคำสั่งการเลี้ยวเบนของตะแกรงขั้นตอนขึ้นอยู่กับ d ลึกตะแกรง. 2) ค่าสำหรับรับของมุมหน้าคลื่นอุบัติการณ์ค่าของมุมที่สั่งซื้อเลนส์ ขึ้นอยู่กับมูลค่าของความถี่เชิงพื้นที่. 3) ทิศทางของเครื่องบินในการที่มีการสั่งซื้อเลนส์บวกและลบขึ้นอยู่กับการเลี้ยวเบนการวางตะแกรงเจได้. 4) ขนาดเชิงมุมของการสั่งซื้อเลนส์ (หรือเลือกมุม) ขึ้นอยู่กับจำนวน ระยะเวลาในตะแกรงเอ็นจึงมีการวัดค่าความเข้มของการกระจายที่ทิศทางของเครื่องบินและขนาดเชิงมุมของการสั่งซื้อเลนส์ที่เราไม่ซ้ำกันสามารถประมาณค่าพารามิเตอร์ของตะแกรงที่. 2 เลนส์ในขั้นตอนการสะท้อนแสงตะแกรงหรือเป็นที่รู้จักนิพจน์ทางคณิตศาสตร์ที่อธิบายในทฤษฎีเกลาของกระบวนการการเลี้ยวเบนในขั้นตอนการสะท้อนแสงตะแกรงตามที่อธิบายไว้โดยเอ็มวันเกิดอีหมาป่า (1973) และ AM Khorokhorov, AM Klishyuk, et al (2005) มะเดื่อ. 1 อธิบายถึงการเกิดขึ้นของกะระยะในการเลี้ยวเบนบนตะแกรงสะท้อนซายน์ได้. สมการของพื้นผิวเฟสตะแกรงที่สามารถแสดงเป็นที่ A และ T -. ความกว้างและระยะเวลารายละเอียดไซน์ตามลำดับสอดคล้องกับHuygens- หลักการเฟรสจุดของแต่ละเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นหน้าคลื่นกลายเป็นแหล่งที่มาของคลื่นรองสร้างในทิศทางสังเกตคลื่นลูกที่มีความกว้างเท่ากับที่U0 - คงสัดส่วนกับความกว้างของคลื่นเหตุการณ์ที่เกิดขึ้น, k 2SO - wavenumber, ǻɯ - แสงแตกต่างเส้นทางระหว่างคานที่1 และ 2 diffracted จากตะแกรง, N -. จำนวนของระยะเวลาในตะแกรง3 ผลที่ได้จากการคำนวณโดยใช้แบบจำลองทางคณิตศาสตร์อยู่บนพื้นฐานของการประมาณของทฤษฎีการเลี้ยวเบนเกลาที่คำนวณและความสัมพันธ์ระหว่างผมกระจายความเข้มและ D ลึกตะแกรงจะได้รับ ความสัมพันธ์ที่ได้รับจะแสดงในกราฟ. มะเดื่อ 2 แสดงให้เห็นถึงการกระจายตัวขององค์ประกอบความเข้ม I2 ในการสั่งซื้อของเลนส์ที่อยู่ในจำนวนของระยะเวลาในตะแกรงที่ 10 และการปล่อยความยาวคลื่น 600 นาโนเมตรของที่. มะเดื่อ 3 รูป 4 แสดงกราฟของความสัมพันธ์ระหว่างผมกระจายความเข้มในลำดับแรกของการเลี้ยวเบนและ D ลึกตะแกรงสำหรับอุบัติการณ์ปกติของรังสี ความสัมพันธ์ที่เป็นตัวแทนของเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นสำหรับการฉายรังสีมีความยาวคลื่น 400, 500, 600, 650 และ 700 นาโนเมตรและภายในระยะเวลาที่ตะแกรงܶൌͳǡͷหนอและܶൌͳหนอ. มะเดื่อ 5 แสดงกราฟของความสัมพันธ์ระหว่างการเลือกมุมของการเลี้ยวเบนลำดับแรกߚ߂และจำนวนของระยะเวลาในตะแกรงไม่มีข้อความสำหรับเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นมุมรังสีߙของ 0, 20º, 40? และ 70 องศา กราฟนี้แสดงให้เห็นถึงการเลือกมุมลดลงด้วยการเพิ่มจำนวนของระยะเวลาในตะแกรง. มะเดื่อ 6 แสดงกราฟของความสัมพันธ์ระหว่างการเลือกมุมของการเลี้ยวเบนลำดับแรกߚ߂และมุมการฉายรังสีเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นߙสำหรับจำนวนของระยะเวลาในตะแกรงไม่มี 10, 40, 70 และ 100 กราฟนี้แสดงให้เห็นถึงการเลือกมุมที่เพิ่มขึ้นลดลงด้วย มุมรังสีเหตุการณ์ที่เกิดขึ้นߙถึง 40? และจากนั้นเพิ่มขนาดเชิงมุม. 4 สรุปผลการวิจัยได้ดำเนินการที่ BMSTU งานนี้ได้รับการสนับสนุนโดยทุนของส่วนหลักของคำสั่งของรัฐ "องค์การการวิจัยทางวิทยาศาสตร์" และโครงการ # 3.1426.2014K จากกระทรวงศึกษาธิการและวิทยาศาสตร์ของสหพันธรัฐรัสเซีย. กิตติกรรมประกาศการวิจัยได้ดำเนินการที่ BMSTU งานนี้ได้รับการสนับสนุนโดยทุนของส่วนหลักของคำสั่งของรัฐ "องค์การการวิจัยทางวิทยาศาสตร์" และโครงการ # 3.1426.2014K จากกระทรวงศึกษาธิการและวิทยาศาสตร์ของสหพันธรัฐรัสเซีย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ไมโครซอฟท์รักษาความปลอดภัยมุมมองเอกสารและป้องกันของแท้สินค้าเนื่องจาก ดิ ƥ culties ของ suucch คุ้มครองเครื่องหมาย falsi ¿ไอออนบวก คุณภาพของไมโครซอฟท์รักษาความปลอดภัยและอาจารย์เมทริกซ์ signi ¿ลดลงอย่างมีนัยสําคัญเมื่อขึ้นอยู่กับความสมบูรณ์ของ difffraction ตะแกรง เราแสดงวิธีการตรวจสอบคุณภาพของโฮโลแกรมความปลอดภัยบนพื้นฐานของการวัดทางอ้อมของ diffractionn ตะแกรงพารามิเตอร์ผลทางทฤษฎีของการประยุกต์ใช้วิธีการของเราสำหรับการตรวจสอบคุณภาพแสดงในบทความนี้
สงวนลิขสิทธิ์ 2015 ผู้เขียน ที่ตีพิมพ์โดยเอลส์นำเสนอนี้เป็นการเปิดบทความภายใต้ใบอนุญาต CC by-nc-nd สงวนลิขสิทธิ์ 2015 ผู้เขียน ที่ตีพิมพ์โดยเอลส์เท่า
( peerhttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/-review ภายใต้ความรับผิดชอบของแห่งชาติ )เมฟีมหาวิทยาลัยวิจัยนิวเคลียร์ ( มอสโก ) pphysics สถาบัน ) ทบทวนภายใต้ความรับผิดชอบของมหาวิทยาลัยวิจัยนิวเคลียร์แห่งชาติเมฟี ( สถาบันฟิสิกส์วิศวกรรมมอสโก ) คำสำคัญ : ไมโครซอฟท์รักษาความปลอดภัย อาจารย์เมทริกซ์ การตรวจสอบคุณภาพ เลนส์ลูกกรง

โปรแกรมรักษาความปลอดภัยของไมโครซอฟท์ ( SH ) สำหรับเอกสารผลิตภัณฑ์หรือปกป้องสิทธิคือ widelly ใช้ทั่วโลกที่แสดงโดย zlokazov e.yu starikov ชิ้นส่วน odinokov เอส. บี. . , et al ( 2013 ) การรักษาความปลอดภัยสูงราบเรียบของ SH ได้โดยการออกแบบที่เป็นเอกลักษณ์ของภาพโฮโลแกรมที่รวมฉาก 3 มิติที่ซับซ้อนเช่นการรักษาความปลอดภัย feaatures เป็นปกปิดภาพและ microtext ผลจลน์เลเซอร์อ่านรูปภาพและอื่น ๆที่ซ่อนอยู่การผลิตมวลของ SH uutilizes แพร่หลายเทคนิคของฟอยล์ร้อนหรือ lavsan ปั๊มกระดาษด้วยการใช้เมทริกซ์ต้นแบบนิกเกิล ที่แสดงถึงโครงสร้างของเมทริกซ์ต้นแบบ relieff พิกเซลรูปแบบการเลี้ยวเบนกับตะแกรงระยะเวลาถึง 0.8 ȝม. riffling อุ๊บเช่นโครงสร้างต้องใช้เฉพาะรุ่น และอุปกรณ์ที่ทันสมัย . ดังนั้นเพิ่มการดวลจุดโทษมันเป็นไปไม่ได้
คุณภาพของการผลิตมวล SH โดยทั่วไปขึ้นอยู่กับ ideality แบบของอาจารย์ที่ ISS ใช้เมทริกซ์ในการกด

อุปกรณ์ ข้อบกพร่องและบรรเทาการบิดเบือนที่เกิดจากการเสียรูปในการคัดลอกเครื่องมากเกินไป และความเสียหายทางกล ของอาจารย์เมทริกซ์นำไปสู่การสลายตัวของภาพโฮโลแกรมและสูญเสียคุณสมบัติด้านความปลอดภัยที่เป็นเอกลักษณ์ดังนั้นปัญหาของเมทริกซ์ต้นแบบก่อนการตรวจสอบคุณภาพให้เกิดความสนใจพิเศษของผู้ผลิตมวล SH .
วัตถุประสงค์ของงานนี้ คือ เพื่อพัฒนาวิธีการดําเนินการประเมินวัตถุประสงค์เกี่ยวกับคุณภาพของโทโฮโลแกรมเมทริกซ์ของการรักษาความปลอดภัย
ในปัจจุบันยังไม่มีฉันทามติแนวทางการประเมินคุณภาพของโฮโลแกรมการรักษาความปลอดภัยสมมติว่าคุณภาพการตรวจสอบดำเนินการในพื้นที่ที่เลือกของการออกแบบการรักษาความปลอดภัยแกรม , การตรวจสอบจะลดลงถึงการวัดพารามิเตอร์ต่อไปนี้ของการเลี้ยวเบนตะแกรง :
- เชิงความถี่Ȟ ;
- ตะแกรงความลึก d ;
- จำนวนคาบในตะแกรงตะแกรง IJ N ; - การปฐมนิเทศ
เนื่องจากระยะเวลาของ gratings มีมูลค่าประมาณ 1 μ Mวิธีที่ใช้ในการวัดโดยตรงของการเลี้ยวเบน gratings พารามิเตอร์สามารถใช้ พารามิเตอร์เช่นโปรไฟล์ของรูปร่าง ความถี่เชิงพื้นที่และตะแกรงลึกสามารถวัดโดยตรงด้วยกล้องจุลทรรศน์ อย่างไรก็ตาม ข้อเสียของวิธีนี้คือ แรงงาน ความรุนแรงและระยะเวลาของตะแกรงการวัดพารามิเตอร์
ทางเลือกวิธีนี้เป็นวิธีทางอ้อมของการวัดมันเป็นที่รู้จักกันว่า :
1 ) ให้คุณค่าของความยาวคลื่น ความเข้มกระจายผมผ่านเลนส์สั่งตะแกรงตะแกรงขึ้นอยู่กับระยะความลึก d .
2 ) เพื่อระบุค่าของการเกิดคลื่นที่มุม ค่าโดยคำสั่งมุมขึ้นอยู่กับค่าของความถี่เชิงพื้นที่
3 ) การกำหนดเป้าหมายของเครื่องบินซึ่งมีบวกและลบ โดยขึ้นอยู่กับการสั่งเลนส์ลูกกรง แอลเจ
4 ) ขนาดเชิงมุมของการเลี้ยวเบนคำสั่ง ( หรือเชิงมุมหัวกะทิ ) ขึ้นอยู่กับจำนวนงวดในตะแกรง .
ดังนั้น ด้วยการวัดค่าความเข้มของการกระจายทิศทางของเครื่องบิน และขนาดของเลนส์ ( คำสั่ง เราสามารถเฉพาะค่าพารามิเตอร์ของตะแกรง
2 . การเลี้ยวเบนในเฟสตะแกรงสะท้อนแสง
รู้จักนิพจน์ทางคณิตศาสตร์ที่อธิบายในด้านทฤษฎีการเลี้ยวเบนในกระบวนการไตร่ตรองระยะตะแกรงตามที่อธิบายไว้โดย เกิด เช่น หมาป่า ( 1973 ) และ น. khorokhorov ) klishyuk et al ( 2005 ) ภาพประกอบ1 . อธิบายการเกิดการเปลี่ยนเฟสในการเลี้ยวเบนบนตะแกรงสะท้อนแสงต่าง .
สมการของเฟสขูดพื้นผิวที่สามารถแสดงเป็น

ที่ T และขนาดและระยะเวลาของโปรไฟล์ ไซน์ตามลำดับ
ตามเกน Fresnel หลักการในแต่ละจุดของเหตุการณ์คลื่น กลายเป็นแหล่งที่มาของคลื่นทุติยภูมิสร้างในการสังเกตทิศทางคลื่นที่มีขนาดเท่ากับที่ U0

) คงสัดส่วนกับขนาดของเหตุการณ์คลื่น 2so – wavenumber K ,
ǻɯ–แสงเส้นทางความแตกต่างระหว่างคาน 1 และ 2 กระจายจากตะแกรง , N - จำนวนของช่วงเวลาในตะแกรง

3 ผลลัพธ์ของการคำนวณ
การใช้แบบจำลองทางคณิตศาสตร์ที่ใช้ในการประมาณค่าสเกลาร์โดยทฤษฎี การคำนวณ และความสัมพันธ์ระหว่างการกระจายความเข้มและตะแกรงความลึก D ได้ การวิเคราะห์ความสัมพันธ์ที่แสดงในกราฟ

รูป2 แสดงให้เห็นถึงการกระจายความเข้มองค์ประกอบ I2 ในคำสั่งโดยภายในจํานวนงวดในตะแกรง 10 และปล่อยความยาวคลื่น 600 นาโนเมตร
รูปที่ 3 และรูปที่ 4 แสดงกราฟของความสัมพันธ์ระหว่างการกระจายความเข้มในการสั่งซื้อครั้งแรกของการเลี้ยวเบนและตะแกรงความลึก d สำหรับการปกติของรังสีความสัมพันธ์จะแสดงเรื่อง รังสีที่มีความยาวคลื่น 400 , 500 , 600 , 650 และ 700 nm และภายในระยะเวลาܶตะแกรงൌͳǡͷ . ܶൌและͳอืม .
รูปที่ 5 แสดงกราฟของความสัมพันธ์ระหว่างค่าการเลือกทางแรกߚ߂การเลี้ยวเบนและจำนวนงวดในตะแกรงเพื่อเหตุการณ์รังสีมุมߙ 0 , 20 ºº 40 และ 70 º .กราฟนี้แสดงถึงการลดลงและเพิ่มจำนวนครั้งในตะแกรง
รูปที่ 6 แสดงกราฟของความสัมพันธ์ระหว่างค่าการเลือกทางแรกߚ߂การเลี้ยวเบนรังสีและมุมที่เกิดขึ้นߙจำนวนงวดในตะแกรงของ 10 , 40 , 70 และ 100กราฟนี้แสดงถึงการลดลงเมื่อเพิ่มเหลี่ยมมุมรังสีที่เกิดขึ้นߙถึง 40 ºแล้วเพิ่มขนาดเชิงมุม .

4 . สรุป
การวิจัยดำเนินการที่ bmstu . งานวิจัยนี้ได้รับการสนับสนุนโดยเงินทุนจากส่วนหลักของรัฐสั่ง " องค์กรวิจัยวิทยาศาสตร์และโครงการ# 3.1426 .2014k จากกระทรวงศึกษาและวิทยาศาสตร์ของสหพันธรัฐรัสเซีย

ขอบคุณการวิจัยครั้งนี้ที่ bmstu . งานวิจัยนี้ได้รับการสนับสนุนโดยเงินทุนจากส่วนหลักของรัฐสั่ง " องค์การวิจัยวิทยาศาสตร์ และ 3.1426.2014k #โครงการจากกระทรวงศึกษาและวิทยาศาสตร์ของสหพันธรัฐรัสเซีย