Here, gold tin solder layers are an

Here, gold tin solder layers are analyzed by GD-OES
[16] (glow discharge optical emission spectroscopy). This
method ablades the metallization by glow discharge and
the optical emission is measured by spectroscopy. Hence,
even measurement of composition profiles is possible.
The relative measurement accuracy is 1% for the gold
concentration and 10% for the depth information if
appropriate calibration standards are used. A typical
profile measured on cosputtered gold tin alloy is shown in
Fig 3. It shows a gold rich surface and a very
homogeneous composition profile in the bulk. The gold
rich surface could be caused by the fact that the shutter of
the gold target is closed after the one of the tin target. But
a gold rich surface is in contrast to the literature [17]
where the segregation of tin to the surface is described.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ที่นี่ วิเคราะห์ชั้นประสานทองดีบุก โดย GD-วิจัย[16] (เรืองแสงปล่อยมลพิษปติก) นี้ablades วิธีการ metallization โดยปล่อยเรืองแสง และวัดมลพิษแสง โดยก ดังนั้นแม้การวัดองค์ประกอบโปรไฟล์ได้ความสัมพันธ์ที่เป็น 1% สำหรับทองคำความเข้มข้นและ 10% สำหรับข้อมูลลึกถ้ามีใช้มาตรฐานการปรับเทียบที่เหมาะสม โดยทั่วไปแสดงส่วนกำหนดค่าบนโลหะผสมดีบุกทอง cosputteredฟิก 3 แสดงพื้นผิวอุดมไปด้วยทองและมากประวัติองค์ประกอบเหมือนในกลุ่ม ทองพื้นผิวที่อุดมไปด้วยอาจเกิดจากความจริงที่ชัตเตอร์ของเป้าหมายทองปิดหลังหนึ่งเป้าหมายดีบุก แต่พื้นผิวอุดมไปด้วยทองจะตรงข้ามกับวรรณกรรม [17]ที่แบ่งแยกดีบุกกับพื้นผิวได้อธิบายไว้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

นี่ชั้นประสานดีบุกทองคำมีการวิเคราะห์โดย GD-OES
[16] (เรืองแสงปล่อยสเปกโทรสโกการปล่อยแสง) นี้วิธี ablades metallization โดยปล่อยเรืองแสงและการปล่อยแสงที่วัดโดยสเปกโทรสโก ดังนั้นแม้การวัดองค์ประกอบของโปรไฟล์เป็นไปได้. ความถูกต้องวัดญาติเป็น 1% สำหรับทองความเข้มข้นและ10% สำหรับข้อมูลเชิงลึกถ้าเทียบมาตรฐานที่เหมาะสมจะใช้ ทั่วไปรายละเอียดวัดโลหะผสมดีบุกทอง cosputtered จะแสดงในรูปที่3 มันแสดงให้เห็นพื้นผิวที่อุดมไปด้วยทองและมากรายละเอียดองค์ประกอบที่เป็นเนื้อเดียวกันในกลุ่ม ทองพื้นผิวที่อุดมไปด้วยอาจจะเกิดจากความจริงที่ว่าชัตเตอร์ของเป้าหมายทองจะปิดหลังจากที่หนึ่งในเป้าหมายดีบุก แต่พื้นผิวที่อุดมไปด้วยทองคำเป็นในทางตรงกันข้ามกับวรรณกรรม [17] ที่แยกดีบุกกับพื้นผิวที่มีการอธิบาย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่นี่ , ทองโลหะผสมดีบุกชั้นวิเคราะห์ตาม gd-oes
[ 16 ] ( โดยการปล่อยแสงสเปกโทรสโกปี ) วิธีนี้
ablades วันงานโดยการเรืองแสงและการวัดแสง
โดยสเปกโทรสโกปี ดังนั้น การวัดองค์ประกอบของโปรไฟล์

แม้เป็นไปได้ ความถูกต้องของการวัดเทียบเป็นร้อยละ 1 สำหรับทอง
ความเข้มข้น และ 10% สำหรับข้อมูลเชิงลึกถ้า
มาตรฐานการสอบเทียบที่เหมาะสมมาใช้ โดยทั่วไป
โปรไฟล์วัด cosputtered ทองโลหะผสมดีบุกแสดงใน
รูปที่ 3 มันแสดงให้เห็นทองมากมายและพื้นผิวเป็นองค์ประกอบมาก
โปรไฟล์ในกลุ่ม ทอง
รวยพื้นผิวอาจจะเกิดจากข้อเท็จจริงที่ว่า ชัตเตอร์ของ
ทอง เป้าหมายคือ ปิดหลังหนึ่งกระป๋อง เป้าหมาย แต่
ทอง รวยพื้นผิวที่เป็นในทางตรงกันข้ามกับวรรณกรรม [ 17 ]
ที่แยกดีบุกกับพื้นผิวจะอธิบาย