concentration of BPR. Fig. 4B demon

concentration of BPR. Fig. 4B demonstrates the linear relationship
between concentrations of BPR and the DPV current responses of the
electrode in the presence of 0.24 mM SDS under the optimized instrument
parameters and experimental conditions. The peak current increased
linearly against the concentration of BPR on the two ranging
from 4.00 nM to 0.126 μM (R2 = 0.9985) and from 0.126 to 0.317 μM
(R2 = 0.9560). The detection limit for BPR was calculated to be 1.33 nM
based on S/N = 3. A low detection limit and wide linear range were
obtained at CPE in the presence of SDS compared to the other reports
(Table 2).
The electrode-to-electrode repeatability was assessed by the DPV
technique. The four electrodes were constructed and the relative standard
deviation (RSD)was achieved at 3.77% (n=8) indicating excellent

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ความเข้มข้นของ BPR Fig. 4B แสดงให้เห็นถึงความสัมพันธ์เชิงเส้นระหว่างความเข้มข้นของ BPR และการตอบสนองปัจจุบัน DPV ของอิเล็กโทรดในต่อหน้าของ SDS มม. 0.24 ภายใต้เครื่องมือให้เหมาะพารามิเตอร์และเงื่อนไขการทดลอง ช่วงปัจจุบันที่เพิ่มขึ้นเชิงเส้นกับความเข้มข้นของ BPR ในตั้งแต่สองจาก 4.00 nM เพื่อ 0.126 μM (R2 = 0.9985) จาก 0.126 กับ 0.317 μM(R2 = 0.9560) คำนวณขีดจำกัดตรวจ BPR เป็น 1.33 nMตาม S/N = 3 ต่ำสุดที่ตรวจสอบวงเงินและช่วงกว้างเส้นรับที่ CPE ในต่อหน้าของ SDS เมื่อเปรียบเทียบกับรายงานอื่น ๆ(ตาราง 2)ทำซ้ำในอิเล็กโทรดไฟฟ้าถูกประเมิน โดยการ DPVเทคนิคการ หุงตสี่ถูกสร้างมาตรฐานสัมพัทธ์ความแตกต่าง (RSD) สำเร็จ 3.77% (n = 8) ระบุยอดเยี่ยม

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความเข้มข้นของ BPR มะเดื่อ 4B แสดงให้เห็นถึงความสัมพันธ์เชิงเส้น
ระหว่างความเข้มข้นของ BPR และการตอบสนองในปัจจุบันของ DPV
ขั้วไฟฟ้าในที่ที่ 0.24 มิลลิ SDS ภายใต้เครื่องมือที่ใช้ในการเพิ่มประสิทธิภาพ
พารามิเตอร์และเงื่อนไขการทดลอง เพิ่มขึ้นสูงสุดในปัจจุบัน
เป็นเส้นตรงกับความเข้มข้นของ BPR ทั้งสองตั้งแต่
จาก 4.00 นาโนเมตรเพื่อ 0.126 ไมครอน (R2 = 0.9985) และ 0.126-0.317 ไมครอน
(R2 = 0.9560) ขีด จำกัด ของการตรวจสอบสำหรับ BPR ที่คำนวณได้จะเป็น 1.33 นาโนเมตร
ขึ้นอยู่กับ S / N = 3. การตรวจสอบวงเงินต่ำเชิงเส้นและช่วงกว้างถูก
ได้ที่ CPE ในการปรากฏตัวของ SDS เมื่อเทียบกับรายงานอื่น ๆ
(ตารางที่ 2).
ขั้วต่อ การทำซ้ำ -electrode ได้รับการประเมินโดย DPV
เทคนิค สี่ขั้วไฟฟ้าที่ถูกสร้างและมาตรฐานญาติ
เบี่ยงเบน (RSD) ก็ประสบความสำเร็จที่ 3.77% (n = 8) บ่งชี้ที่ดีเยี่ยม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความเข้มข้นของ BPR . รูปแสดงความสัมพันธ์เชิงเส้น 4B
ระหว่างความเข้มข้นของ BPR และ dpv ในปัจจุบันการตอบสนองของ
ขั้วต่อหน้า 0.24 มม. SDS ภายใต้เครื่องมือที่ดีที่สุด
พารามิเตอร์และเงื่อนไขการทดลอง ยอดปัจจุบันเพิ่มขึ้น
เส้นตรงกับความเข้มข้นของ BPR บนสองตั้งแต่
จาก 4.00 นาโนเมตร 0.126 μ M ( R2 = 0.9985 ) และจาก 0.126 0317 μ M
( R2 = 0.9560 ) ขอบเขตการตรวจสอบ BPR คือคำนวณเป็น 1.33 nm
ตาม S / N = 3 จำกัดการตรวจสอบต่ำและช่วงเชิงเส้นกว้าง 1
, CPE ในการแสดงตนของ SDS เทียบกับ
รายงานอื่น ๆ ( ตารางที่ 2 ) .
ขั้วไฟฟ้าเพื่อการวินิจฉัยโดยใช้เทคนิค dpv

สี่ขั้วไฟฟ้าถูกสร้างและส่วนเบี่ยงเบนมาตรฐานสัมพัทธ์ ( RSD )
เท่ากับร้อยละ 377 % ( n = 8 ) แสดงยอดเยี่ยม