FEI Quanta FEG 200 High Resolution

FEI Quanta FEG 200 High Resolution Scanning Electron Microscope with a resolution of 1.2 nm was used to study the compositional and morphological properties.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เฟยควอนตั้ม FEG 200 สูงความละเอียดกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด มีความละเอียด 1.2 nm ใช้ในการศึกษาวิจัยคุณสมบัติ compositional และสัณฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เฟควอนตั้ม FEG 200 ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีความละเอียด 1.2 นาโนเมตรถูกใช้ในการศึกษาองค์ประกอบและคุณสมบัติทางสัณฐานวิทยา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เฟย Quanta FEG 200 ความละเอียดสูงกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนที่มีความละเอียด 1.2 nm จำนวนคุณสมบัติ ส่วนประกอบของ .