Lead zirconate titanate (Pb(ZrxTi1−

Lead zirconate titanate (Pb(ZrxTi1−x)O3: PZT) thin films were fabricated on Pt/Ti/SiO2/Si(100) substrates by a hybrid process comprising the sol–gel method and pulsed-laser deposition, using various targets of Pb(ZrxTi1−x)O3 with Zr/Ti ratios of 70/30, 58/42, 52/48, 45/55 and 30/70. The effect of Zr/Ti ratio on the crystal structure and microstructure of the PZT films was investigated. The results of X-ray diffraction analysis indicated that the Zr/Ti ratio of the films fabricated using the target with a Zr/Ti ratio of 45/55 is close to that of the morphotropic phase boundary. The rosette structure was observed in Zr-rich PZT films, but not in Ti-rich PZT films. The PZT films fabricated using the target with a Zr/Ti ratio of 45/55 had a polycrystalline columnar microstructure extending throughout their thickness, and no pyrochlore phase on the surface was observed.

Crystal structure and microstructure of lead zirconate titanate (PZT) thin films with various Zr/Ti ratios grown by hybrid processing. Available from: https://www.researchgate.net/publication/244257703_Crystal_structure_and_microstructure_of_lead_zirconate_titanate_PZT_thin_films_with_various_ZrTi_ratios_grown_by_hybrid_processing [accessed Jan 25, 2016].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

นำ zirconate titanate (Pb (ZrxTi1−x) O3: PZT) หลังสร้างฟิล์มบางบนพื้นผิว Pt/Ti/SiO2/Si(100) โดยกระบวนการผสมประกอบการโซลเจลวิธีและเลเซอร์สูงสะสม เป้าหมายต่าง ๆ ของ Pb (ZrxTi1−x) O3 ด้วย Zr/ตี้ อัตราส่วน 70/30, 58/42, 52/48, 45/55 และ 30/70 ผลของอัตราส่วน Zr/ตี้ ในโครงสร้างผลึกและต่อโครงสร้างจุลภาคของฟิล์ม PZT ถูกตรวจสอบ ผลลัพธ์ของการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์วิเคราะห์ระบุว่า อัตราส่วน Zr/ตี้ ฟิล์มหลังสร้างเป้าหมายด้วยอัตราส่วนของ 45/55 Zr/ตี้ ใช้กับที่ขอบระยะ morphotropic โครงสร้างของ rosette ถูกสังเกต ในภาพยนตร์ PZT Zr-ริช แต่ไม่ใช่ ในฟิล์ม PZT ตี้ริช ภาพยนตร์ PZT หลังสร้างด้วยเป้าหมายเป็นอัตรา 45/55 Zr/ตี้ มีการคคอลัมน์ต่อโครงสร้างจุลภาคขยายตลอดความหนา และขั้นตอนบนพื้นผิว pyrochlore ไม่ถูกสังเกต โครงสร้างผลึกและต่อโครงสร้างจุลภาคของรอ zirconate titanate (PZT) บางฟิล์ม ด้วยอัตราส่วน Zr/ตี้ ต่าง ๆ ที่เติบโตขึ้น โดยการประมวลผลแบบผสมผสาน จาก: [25 Jan, 2016 เข้า] การ https://www.researchgate.net/publication/244257703_Crystal_structure_and_microstructure_of_lead_zirconate_titanate_PZT_thin_films_with_various_ZrTi_ratios_grown_by_hybrid_processing

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

titanate เซอร์โคตะกั่ว (Pb (ZrxTi1-x) O3: PZT) ฟิล์มบางที่ถูกประดิษฐ์ใน Pt / ตี / SiO2 / ศรี (100) พื้นผิวโดยกระบวนการไฮบริดที่ประกอบไปด้วยวิธีโซลเจลและการสะสมชีพจรเลเซอร์โดยใช้เป้าหมายต่างๆของ Pb (ZrxTi1-x) O3 มีอัตราส่วน Zr / Ti ของ 70/30, 58/42, 52/48, 45/55 และ 30/70 ผลของ Zr / Ti อัตราส่วนในโครงสร้างผลึกและจุลภาคในภาพยนตร์ที่ได้รับการตรวจสอบ PZT ผลการวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ที่ระบุว่าอัตราส่วน Zr / Ti ของภาพยนตร์ที่ประดิษฐ์โดยใช้เป้าหมายที่มีอัตราส่วน Zr / Ti ของ 45/55 อยู่ใกล้กับที่ของขอบเขตระยะ morphotropic โครงสร้างดอกกุหลาบพบว่าในภาพยนตร์ PZT Zr ที่อุดมไปด้วย แต่ไม่ได้อยู่ในภาพยนตร์ PZT Ti ที่อุดมไปด้วย ภาพยนตร์ PZT ประดิษฐ์โดยใช้เป้าหมายที่มีอัตราส่วน Zr / Ti ของ 45/55 ได้จุลภาคเสา polycrystalline ขยายตลอดความหนาของพวกเขาและไม่มีขั้นตอน pyrochlore บนพื้นผิวได้สังเกต. โครงสร้างผลึกและจุลภาคของ zirconate titanate ตะกั่ว (PZT) ฟิล์มบาง ที่มีอัตราส่วนต่างๆ Zr / Ti เติบโตโดยการประมวลผลไฮบริด ได้จาก: [เข้าถึง 25 มกราคม 2016]