Materials Characterization with Sca

Materials Characterization with Scanning Electron Microscopy, Electron Backscatter Diffraction and X-Ray Microanalysis Techniques Department Physic , CMU

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สมบัติของวัสดุ มีการสแกนชาวดัตช์ อิเล็กตรอนกระจายแสงกระจายกลับ และ X-Ray Microanalysis เทคนิคแผนก ฟิสิกส์ มหาวิทยาลัยเชียงใหม่

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะวัสดุด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนอิเล็กตรอน Backscatter เลนส์และ X-Ray Microanalysis เทคนิคกรมฟิสิกส์, มหาวิทยาลัยเชียงใหม่

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วัสดุการศึกษาด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด การเลี้ยวเบนอิเล็กตรอนกระเจิงกลับรังสีเทคนิคและจัดเรียงกันอยู่แผนกฟิสิกส์ มช.