were carried out using a Philips PW

were carried out using a Philips PW
3710 x-ray diffractometer with Bragg–Brentano geometry
and a Cu Ka source (40 kV, 30 mA). Rietveld
refinement of the XRD profiles was exploited to
obtain information about phase amounts, crystallite
sizes, and lattice parameters.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ได้ดำเนินการใช้ PW ฟิลิปส์3710 diffractometer เอ็กซ์เรย์กับเรขาคณิต Bragg-Brentanoและแหล่งกา Cu (40 kV, 30 mA) Rietveldละเอียดลออของโพรไฟล์ XRD ที่สามารถให้ได้รับข้อมูลเกี่ยวกับขั้นตอนจำนวน crystalliteขนาด และพารามิเตอร์โครงตาข่ายประกอบด้วย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ได้ดำเนินการโดยใช้ฟิลิปส์ PW
3710 มาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ที่มีรูปทรงเรขาคณิต Bragg-Brentano
และเป็นแหล่งที่ลูกบาศ์กกา (40 กิโลโวลต์, 30 มิลลิแอมป์) Rietveld
การปรับแต่งของโปรไฟล์ XRD
ไม่เหมาะสมที่จะได้รับข้อมูลเกี่ยวกับจำนวนเงินที่เฟสผลึกขนาดและพารามิเตอร์ตาข่าย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

Selected vocabulary.