testing cycle has been structured t

testing cycle has been structured to model the development cycle. In other words, one should be able to establish a one-to-one correspondence between development and testing processes. For instance, the purpose of a module test is to find discrepancies between the program's modules and their interface specifications. The purpose of function testing is showing that a program does not match its external specifications. The purpose of system testing is showing that the product is inconsistent with its original objectives. The advantages of this structure are that it avoids unproductive redundant testing and prevents one from overlooking large class of errors. For instance, rather than simply labeling system testing as "testing of the whole system" and possibly repeating earlier tests, system testing is oriented toward a distinct class of errors (those made during the translation of the objectives to the external specification) and measured with respect to a distinct type of documentation in the development process.
As noted earlier, the forms of high-order testing shown in Figure 6.3 (above) are most applicable to software products (programs written as a result of a contract or programs intended for wide usage, as opposed to experimental programs or programs written for use only by the program's author). Programs not written as programs often do not have formal requirements and objectives; for such programs, the function test might be the only higher-order test. Also, the need for high-order testing increases as the size of the program increases. The reason is that the ratio of design errors (errors made in the earlier development processes) to coding errors is considerably higher in large programs than in small programs.

Note that the sequence of testing processes in Figure 6.3 does not necessarily imply a time sequence. For instance, since system testing is not defined as "the kind of testing one does after function testing", but is defined as a distinct type of testing focused on a distinct class of errors, it could very well be partially overlapped in time with other testing processes.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การทดสอบวงจรถูกจัดโครงสร้างแบบวงจรการพัฒนา ในคำอื่น ๆ หนึ่งควรจะสามารถที่จะสร้างการติดต่อแบบหนึ่งต่อหนึ่งระหว่างกระบวนการทดสอบและพัฒนา เช่น วัตถุประสงค์ของการทดสอบโมดูลคือการ หาความขัดแย้งระหว่างโมดูลของโปรแกรมและข้อมูลจำเพาะเกี่ยวกับอินเทอร์เฟซของพวกเขา วัตถุประสงค์ของการทดสอบการทำงานคือแสดงว่า โปรแกรมไม่ตรงกับข้อมูลจำเพาะของภายนอก วัตถุประสงค์ของการทดสอบระบบแสดงว่า ผลิตภัณฑ์ที่ไม่สอดคล้องกับวัตถุประสงค์เดิม ข้อดีของโครงสร้างนี้มีว่า จะหลีกเลี่ยงการทดสอบซ้ำซ้อนก่อผล และป้องกันจากห้องเรียนขนาดใหญ่ของข้อผิดพลาด เช่น แทนที่จะติดฉลากระบบการทดสอบเป็น "การทดสอบของทั้งระบบ" และอาจจะทำซ้ำการทดสอบก่อนหน้านี้ เพียงแค่ทดสอบระบบเน้นไปทางชั้นเรียนแตกต่างกันของข้อผิดพลาด (ที่ทำในระหว่างการแปลวัตถุประสงค์จำเพาะภายนอก) และวัดเกี่ยวกับชนิดแตกต่างของเอกสารในกระบวนการพัฒนาตามที่ระบุไว้ก่อนหน้านี้ ในรูปแบบของ การทดสอบสั่งสูงแสดงในรูปที่ 6.3 (ด้านบน) มีใช้มากที่สุดกับผลิตภัณฑ์ซอฟต์แวร์ (โปรแกรมที่เขียนขึ้นเป็นผลมาจากสัญญาหรือโปรแกรมที่มีไว้สำหรับการใช้งานหลากหลาย เมื่อเทียบกับโปรแกรมทดลองหรือโปรแกรมที่เขียนขึ้นสำหรับการใช้ โดยผู้เขียนของโปรแกรมเท่านั้น) โปรแกรมที่ไม่เขียนโปรแกรมมักจะไม่มีข้อกำหนดอย่างเป็นทางการและวัตถุประสงค์ สำหรับโปรแกรมดังกล่าว การทดสอบฟังก์ชันอาจจะทดสอบเฉพาะสูงสั่ง ยัง จำเป็นสำหรับการทดสอบสั่งสูงเพิ่มเป็นขนาดของการเพิ่มโปรแกรม เหตุผลคืออัตราส่วนของการออกแบบผิดพลาด (ข้อผิดพลาดในกระบวนการพัฒนาก่อนหน้า) ที่การเขียนโค้ดข้อผิดพลาดจะสูงมากในโปรแกรมมีขนาดใหญ่กว่าในโปรแกรมขนาดเล็กหมายเหตุว่า ลำดับของการทดสอบกระบวนการในรูป 6.3 ไม่จำเป็นต้องหมายลำดับเวลา เช่น ตั้งแต่การทดสอบระบบไม่ได้กำหนดเป็น "ชนิดของการทดสอบไม่หนึ่งหลังจากการทดสอบการทำงาน" แต่เป็นชนิดแตกต่างของการทดสอบในระดับแตกต่างกันของข้อผิดพลาด มันดีมากอาจจะคาบเกี่ยวกันได้บางส่วนในเวลากับกระบวนการอื่น ๆ การทดสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การทดสอบรอบที่ได้รับโครงสร้างรูปแบบวงจรการพัฒนา ในคำอื่น ๆ หนึ่งควรจะสามารถที่จะสร้างการติดต่อแบบหนึ่งต่อหนึ่งระหว่างการพัฒนาและการทดสอบกระบวนการ ยกตัวอย่างเช่นวัตถุประสงค์ของการทดสอบโมดูลที่จะพบความแตกต่างระหว่างโมดูลของโปรแกรมและข้อกำหนดอินเตอร์เฟซของพวกเขา วัตถุประสงค์ในการทดสอบฟังก์ชั่นที่มีการแสดงให้เห็นว่าโปรแกรมที่ไม่ตรงกับรายละเอียดภายนอก วัตถุประสงค์ในการทดสอบระบบจะแสดงให้เห็นว่าผลิตภัณฑ์ที่ไม่สอดคล้องกับวัตถุประสงค์เดิม ข้อดีของโครงสร้างนี้ที่จะหลีกเลี่ยงการทดสอบที่ซ้ำซ้อนและป้องกันการก่อผลอย่างใดอย่างหนึ่งที่สามารถมองเห็นได้จากระดับใหญ่ข้อผิดพลาด ยกตัวอย่างเช่นมากกว่าเพียงแค่การติดฉลากการทดสอบระบบเป็น "การทดสอบของทั้งระบบ" และอาจจะทำซ้ำการทดสอบก่อนหน้านี้การทดสอบระบบจะมุ่งเน้นไปยังชั้นที่แตกต่างกันของข้อผิดพลาด (ผู้ที่ทำระหว่างการแปลของวัตถุประสงค์เพื่อเปคภายนอก) และวัดที่มี ส่วนที่เกี่ยวกับประเภทที่แตกต่างของเอกสารในกระบวนการพัฒนา.
ตามที่ระบุไว้ก่อนหน้านี้ในรูปแบบของการทดสอบสูงลำดับที่แสดงในรูปที่ 6.3 (เหนือ) เป็นส่วนใหญ่ที่ใช้บังคับกับผลิตภัณฑ์ซอฟต์แวร์ (โปรแกรมที่เขียนเป็นผลมาจากการทำสัญญาหรือโปรแกรมที่มีไว้สำหรับกว้าง การใช้งานเมื่อเทียบกับโปรแกรมทดลองหรือโปรแกรมที่เขียนขึ้นสำหรับการใช้งานโดยเฉพาะการเขียนโปรแกรม) โปรแกรมไม่ได้เขียนโปรแกรมมักจะไม่ได้มีความต้องการที่เป็นทางการและวัตถุประสงค์ สำหรับโปรแกรมดังกล่าวการทดสอบฟังก์ชั่นอาจจะเป็นเพียงการทดสอบขั้นสูง นอกจากนี้ยังมีความจำเป็นในการทดสอบสูงการสั่งซื้อเพิ่มขึ้นตามขนาดของการเพิ่มขึ้นของโปรแกรม เหตุผลก็คือว่าอัตราส่วนของข้อผิดพลาดของการออกแบบ (ข้อผิดพลาดที่เกิดขึ้นในกระบวนการพัฒนาที่ก่อนหน้านี้) ข้อผิดพลาดของการเขียนโปรแกรมเป็นอย่างมากที่สูงขึ้นในโปรแกรมที่มีขนาดใหญ่กว่าในโปรแกรมขนาดเล็ก.

โปรดทราบว่าลำดับของกระบวนการทดสอบในรูปที่ 6.3 ไม่จำเป็นต้องหมายถึงลำดับเวลา ยกตัวอย่างเช่นตั้งแต่การทดสอบระบบไม่ได้ถูกกำหนดเป็น "ชนิดของการทดสอบหนึ่งไม่หลังจากการทดสอบฟังก์ชั่น" แต่ถูกกำหนดให้เป็นประเภทที่แตกต่างกันของการทดสอบที่มุ่งเน้นการเรียนที่แตกต่างกันของข้อผิดพลาดก็อาจเป็นอย่างดีจะซ้อนทับบางส่วนในเวลาที่มีคนอื่น ๆ กระบวนการทดสอบ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

วงจรทดสอบมีโครงสร้างแบบวงจรการพัฒนา ในคำอื่น ๆหนึ่งควรจะสามารถที่จะสร้างการติดต่อแบบหนึ่งต่อหนึ่งระหว่างกระบวนการการพัฒนาและการทดสอบ ตัวอย่างเช่นวัตถุประสงค์ของโมดูลการทดสอบคือการหาความแตกต่างระหว่างโมดูลของโปรแกรมและข้อมูลที่ติดต่อของพวกเขา วัตถุประสงค์ของการทดสอบฟังก์ชันจะแสดงโปรแกรมที่ไม่ตรงกับคุณสมบัติภายนอกของ วัตถุประสงค์ของการทดสอบระบบแสดงให้เห็นว่าผลิตภัณฑ์ที่สอดคล้องกับวัตถุประสงค์ของต้นฉบับ ข้อดีของโครงสร้างนี้คือว่า มันหลีกเลี่ยงการทดสอบไม่ซ้ำซากและป้องกันหนึ่งจากห้องขนาดใหญ่สามารถมองเห็นข้อผิดพลาด เช่น แทนที่จะเพียงแค่การติดฉลากการทดสอบระบบเป็น " ทดสอบระบบ " ทั้งหมด และอาจทำซ้ำการทดสอบก่อนหน้านี้ การทดสอบระบบเป็นเชิงต่อชั้นเรียนที่แตกต่างกันของข้อผิดพลาด ( ที่ทำในระหว่างการแปลวัตถุประสงค์เพื่อสเปคภายนอก ) และวัดเทียบกับชนิดที่แตกต่างกันของเอกสารในกระบวนการพัฒนาตามที่ระบุไว้ก่อนหน้านี้รูปแบบของการทดสอบวงจรที่แสดงในรูปที่ 5 ( ข้างบน ) ใช้มากที่สุดผลิตภัณฑ์ซอฟต์แวร์ ( โปรแกรมเขียนเป็นผลของโปรแกรมสัญญาหรือมีไว้เพื่อใช้งานกว้าง , เป็นนอกคอกหรือโปรแกรมเขียนโปรแกรมทดลองใช้เท่านั้นโดยผู้เขียนโปรแกรม ) โปรแกรมไม่ได้เขียนเป็นโปรแกรมที่มักจะไม่ได้มีความต้องการอย่างเป็นทางการ และวัตถุประสงค์ เพื่อ โปรแกรม เช่น ทดสอบการทำงานอาจจะทดสอบระดับสูงเท่านั้น ยังต้องทดสอบวงจรเพิ่มขึ้นเมื่อขนาดของโปรแกรมเพิ่มขึ้น เหตุผลคือ อัตราส่วนของข้อผิดพลาดการออกแบบ ( ความผิดพลาดในการพัฒนาก่อนหน้านี้กระบวนการ ) นะครับ ผิดพลาดได้สูงมากในโปรแกรมขนาดใหญ่กว่าในโปรแกรมขนาดเล็กโปรดสังเกตว่าลำดับของกระบวนการทดสอบในรูปที่ 6.3 ไม่จำเป็นต้องบ่งบอกถึงเวลาลำดับ ตัวอย่าง ตั้งแต่การทดสอบระบบไม่ได้หมายถึง " ชนิดของการทดสอบอย่างใดอย่างหนึ่งหลังจากการทดสอบ " ฟังก์ชัน แต่จะกำหนดเป็นชนิดที่แตกต่างของการทดสอบเน้นในชั้นเรียนที่แตกต่างกันของข้อผิดพลาด มันก็ถูกบางส่วนทับซ้อนกันในเวลาที่มีกระบวนการทดสอบอื่น ๆ