The system shown in the diagram abo

The system shown in the diagram above includes only one fault which is located in Circuit 5. Using the half split method the ntfirst test would be made at the point shown and the second test would be made at poim

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ระบบแสดงในไดอะแกรมข้างต้นมีข้อบกพร่องเพียงหนึ่งซึ่งอยู่ในวงจร 5 ใช้วิธีแบ่งครึ่งจะทำการทดสอบ ntfirst ที่แสดงจุด และจะทำการทดสอบสองที่ poim

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ระบบแสดงในแผนภาพข้างต้นมีเพียงหนึ่งในความผิดซึ่งตั้งอยู่ในวงจร 5. การใช้วิธีการแบ่งครึ่งหนึ่งของการทดสอบ ntfirst จะทำที่จุดที่แสดงและการทดสอบที่สองจะทำที่ poim

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ระบบที่แสดงในแผนภาพข้างต้น มีเพียงหนึ่งความผิดซึ่งตั้งอยู่ในวงจร 5 การใช้วิธีแบบแบ่งครึ่ง ntfirst จะเกิดขึ้นที่จุดที่แสดง และการทดสอบครั้งที่สองจะทำที่ poim