tWe investigate the effect of yttri

tWe investigate the effect of yttrium-doping on the microstructures and semiconductor-metal phase tran-sition characteristics of polycrystalline VO2thin films prepared by reactively co-sputtering process. XPSanalyses indicate the existence of Y3+in the Y-doped VO2films

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

tWe ตรวจสอบผลของยาสลบอิตเทรียมในฟังก์การและเฟสโลหะกึ่งตัวนำทรานซื้อลักษณะของค VO2thin ภาพยนตร์โดยนี้ในเชิงโต้ตอบร่วมกระบวนสปัตเตอร์ XPSanalyses บ่งชี้ว่า การดำรงอยู่ ของ Y3 + ในการเจือ Y VO2films

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

TWE ศึกษาผลของอิตเทรียมยาสลบในจุลภาคและเฟสเซมิคอนดักเตอร์โลหะลักษณะ tran-sition ของ polycrystalline ภาพยนตร์ VO2thin ที่จัดทำโดยกระบวนการเชิงร่วมสปัตเตอร์ XPSanalyses บ่งบอกถึงการดำรงอยู่ของ Y3 + ที่ VO2films Y-เจือ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ศึกษาผลของการเติมอิทสองครั้งต่อโครงสร้างจุลภาคและสารกึ่งตัวนำโลหะเฟสทราน sition ลักษณะของผลึก vo2thin ภาพยนตร์ที่เตรียมโดยกระบวนการสปัตเตอริง reactively Co . xpsanalyses บ่งชี้ถึงการดำรงอยู่ของ Y3 + ใน y-doped vo2films