3.2. Detection limitsThe detection

3.2. Detection limits
The detection limit used in XRF analysis can be defined as the lower limit of detection (LLD)(3σ) which is assumed to be the concentration equivalent to three standard counting errors of a set of measurements of the background intensity. Our recent studies using the PW 2440 spectrometer enabled us to scan the elements of interest and to calculate the counting statistical error (CSE) and the lowest limit of detection (LLD) for elected counting times on peaks and backgrounds. When reasonable times are selected (60 s peak – 40 s background for trace elements and 20 s peak – 10 s background for major elements) the LLD and CSE are good. Table 2 indicates the concentration interval and the lower limit of detection for each analyte. These studies have also shown that standard fused glass discs made from 2 g of powder are critically thick enough for measuring major and trace elements. However, the line intensity measuring conditions are the most important factor in determining the final detection limit.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3.2. การตรวจสอบจำกัดสามารถกำหนดขีดจำกัดการตรวจจับที่ใช้ในการวิเคราะห์ XRF เป็นขีดจำกัดล่างของการตรวจสอบ (LLD)(3σ) ซึ่งจะถือว่าเป็นความเข้มข้นเท่ากับผิดพลาดนับสามมาตรฐานของชุดตรวจวัดความเข้มพื้นหลัง การศึกษาล่าสุดของเราใช้สเปกโตรมิเตอร์ PW 2440 ที่ช่วยให้เราสแกนองค์ประกอบของดอกเบี้ย และการคำนวณข้อผิดพลาดทางสถิติการตรวจนับ (CSE) และขีดจำกัดต่ำสุดของการตรวจสอบ (LLD) สำหรับเลือกตั้งเวลาการตรวจนับบนยอดเขาและพื้นหลัง เมื่อเวลาเหมาะสมคือ เลือก (60 s peak – พื้นหลัง s 40 ธาตุและสูงสุด 20 s – s พื้นหลัง 10 สำหรับองค์ประกอบสำคัญ) LLD และ CSE มีดี ตารางที่ 2 แสดงช่วงความเข้มข้นและขีดจำกัดล่างของการตรวจสอบสำหรับแต่ละ analyte การศึกษาเหล่านี้ได้แสดงให้เห็นว่า แผ่นแก้วหลอมมาตรฐานทำจาก 2 กรัมของผงมีวิกฤตหนาพอที่การวัดหลักและธาตุ อย่างไรก็ตาม สภาพวัดความเข้มของสายจะเป็นปัจจัยสำคัญในการกำหนดขีดจำกัดการตรวจสอบขั้นสุดท้าย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.2 การตรวจหาข้อ จำกัด
การตรวจสอบวงเงินที่ใช้ในการวิเคราะห์ XRF สามารถกำหนดเป็นขีด จำกัด ล่างของการตรวจสอบ (แนวหน้า) (3σ) ซึ่งจะถือว่าเทียบเท่าความเข้มข้นถึงสามข้อผิดพลาดนับมาตรฐานของการตั้งค่าของการวัดความเข้มของพื้นหลัง การศึกษาล่าสุดของเราโดยใช้ PW 2440 สเปกโตรมิเตอร์ช่วยให้เราสามารถสแกนองค์ประกอบที่น่าสนใจและการคำนวณผิดพลาดนับสถิติ (CSE) และต่ำสุดของการตรวจสอบ (แนวหน้า) สำหรับการเลือกตั้งครั้งนับบนยอดเขาและพื้นหลัง เมื่อเวลาที่เหมาะสมจะถูกเลือก (60 s สูงสุด - พื้นหลัง 40 สำหรับธาตุและ 20 s สูงสุด - พื้นหลัง 10 วินาทีสำหรับองค์ประกอบหลัก) และแนวหน้า CSE เป็นสิ่งที่ดี ตารางที่ 2 แสดงให้เห็นช่วงความเข้มข้นและขีด จำกัด ล่างของการตรวจสอบสำหรับแต่ละวิเคราะห์ การศึกษาเหล่านี้ยังแสดงให้เห็นว่ามาตรฐานการหลอมแผ่นกระจกที่ทำจาก 2 กรัมของผงมีความหนาพออย่างยิ่งสำหรับการวัดที่สำคัญและธาตุ อย่างไรก็ตามเงื่อนไขความเข้มสายวัดเป็นปัจจัยที่สำคัญที่สุดในการกำหนดขีด จำกัด ของการตรวจสอบขั้นสุดท้าย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3.2 . จำกัดการค้นหาการตรวจสอบวงเงินที่ใช้ในการวิเคราะห์ XRF สามารถกําหนดเป็นขีดจำกัดของการตรวจหา ( นิติศาสตรดุษฎีบัณฑิต ) ( 3 σ ) ซึ่งถือว่ามีความเข้มข้นเท่ากับสามมาตรฐานนับข้อผิดพลาดของชุดของการวัดความเข้มของพื้นหลัง การศึกษาล่าสุดของเราใช้ PW 2440 สเปกการใช้งานเราสแกนองค์ประกอบของดอกเบี้ยและการคํานวณนับสถิติข้อผิดพลาด ( CSE ) และขีดจำกัดต่ำสุดของการตรวจวัด ( นิติศาสตรดุษฎีบัณฑิต ) สำหรับการเลือกตั้งนับครั้งบนยอดเขาและพื้นหลัง เมื่อถึงเวลาที่เหมาะสมจะถูกเลือก ( 60 s สูงสุด– 40 s พื้นหลังและธาตุ 20 s สูงสุด– 10 พื้นหลังองค์ประกอบหลัก ) นิติศาสตรดุษฎีบัณฑิต และ CSE จะดี ตารางที่ 2 แสดงความเข้มข้นของช่วงเวลาและขีดจำกัดของการตรวจหาแต่ละครู . การศึกษาเหล่านี้ได้แสดงให้เห็นว่ามาตรฐานผสมแก้วแผ่นทำจากผง 2 กรัม มีความหนาเพียงพอสำหรับวัดหลักและธาตุ . อย่างไรก็ตาม เส้นเข้มเงื่อนไขในการวัดเป็นปัจจัยที่สำคัญที่สุดในการกำหนดขอบเขตการตรวจสอบขั้นสุดท้าย