The X-ray diffraction patterns of C

The X-ray diffraction patterns of Co-doped ZnO and Indoped ZnO thin films with doping levels are presented in
Figures 1 and 2, respectively. Here the films were deposited on glass substrate at a substrate temperature of 350°C

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

จะแสดงรูปแบบการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์ของฟิล์มบาง Co-doped ZnO และ Indoped ZnO กับโดปปิงค์ระดับ
ตัวเลข 1 และ 2 ตามลำดับ ที่นี่ก็ฝากภาพยนตร์บนพื้นผิวแก้วที่อุณหภูมิพื้นผิวของ 350° C

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปแบบการเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบนของผู้ร่วมยาซิงค์ออกไซด์และซิงค์ออกไซด์ Indoped ฟิล์มบางมีระดับยาสลบถูกนำเสนอใน
รูปที่ 1 และ 2 ตามลำดับ นี่คือภาพยนตร์ที่ถูกวางลงบนพื้นผิวแก้วที่อุณหภูมิพื้นผิวของ 350 ° C

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

มีรูปแบบการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์ของบริษัทด้วยเช่นกัน indoped ฟิล์มบางซิงค์ออกไซด์โด๊ป และด้วยระดับนำเสนอ
ตัวเลข 1 และ 2 ตามลำดับ นี่คือภาพยนตร์ถูกฝากไว้บนแผ่นแก้วที่อุณหภูมิ 350 องศา C พื้นผิว