M. White and Y. Chen, “Scaled CMOS

M. White and Y. Chen, “Scaled CMOS Technology Reliability Users
Guide,” NASA Electronic Parts and Packaging (NEPP) Program, 2008.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ม. สีขาวและ Y. เฉิน "ปรับผู้ใช้ CMOS เทคโนโลยีความน่าเชื่อถือคู่มือ NASA ชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์และโปรแกรมบรรจุภัณฑ์ (NEPP) 2008

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เอ็มสีขาวและเฉินวาย "สเกลความน่าเชื่อถือผู้ใช้เทคโนโลยี CMOS
คู่มือ" นาซาชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์และบรรจุภัณฑ์ (NEPP) โปรแกรม 2008

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เมตร สีขาว และ วาย เฉิน " CMOS ขนาดคู่มือผู้ใช้
ความน่าเชื่อถือเทคโนโลยี " นาซาชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์และบรรจุภัณฑ์ ( nepp ) โปรแกรม 2008