The composition and structure of th

The composition and structure of the oxide films were
determined by XPS depth profiling using argon ions. Fig. 2
shows the depth distribution of all elements in the layer as
registered by the XPS analysis

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

องค์ประกอบและโครงสร้างของฟิล์มออกไซด์ตามความลึก XPS สร้างโพรไฟล์โดยใช้ประจุอาร์กอน Fig. 2แสดงการกระจายความลึกขององค์ประกอบทั้งหมดในชั้นที่เป็นโดยการวิเคราะห์ XPS

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

องค์ประกอบและโครงสร้างของฟิล์มออกไซด์ที่ถูกกำหนดโดย XPS โปรไฟล์ลึกโดยใช้ไอออนอาร์กอน
มะเดื่อ. 2
แสดงการกระจายความลึกขององค์ประกอบทั้งหมดในชั้นในขณะที่ลงทะเบียนโดยการวิเคราะห์ XPS

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

องค์ประกอบและโครงสร้างของฟิล์มออกไซด์
กำหนดความลึกโปรไฟล์ XPS การใช้อาร์กอนไอออน รูปที่ 2
แสดงความลึก การกระจายขององค์ประกอบทั้งหมดในเลเยอร์เป็นลงทะเบียนโดย XPS การวิเคราะห์