A glass plate thickness measuring i

A glass plate thickness measuring instrument wherein a beam of radiation is impinged on the glass to provide a pair of beams reflected from the front and back surfaces of the glass plate respectively. The two beams are made to fall on a radiation responsive device in the form of a charge coupled device, which provides pulsed image outputs of the beams in the form of staircase waveforms of a truncated Gaussian distribution. Electronic circuity, including a microprocessor, is employed to calculate the center of gravity of an area under both waveforms above a threshold value, and the distance between the respective centers of gravity calculated to provide a measure of the thickness of the material.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เครื่องมือนั้นลำแสงรังสีมี impinged บนกระจกเพื่อให้คู่ของคานวัดความหนาของแผ่นเป็นกระจกสะท้อนจากพื้นผิวด้านหน้า และด้านหลังของจานแก้วตามลำดับ สองลำแสงจะทำให้ตกอยู่บนอุปกรณ์ตอบสนองต่อรังสีในรูปของอุปกรณ์ค่าธรรมเนียมควบคู่ ซึ่งให้ผลภาพตัวของคานในรูปแบบของบันไดคลื่นการกระจาย Gaussian ตัด Circuity อิเล็กทรอนิกส์ รวมถึงไมโครโปรเซสเซอร์ เป็นลูกจ้างในการคำนวณจุดศูนย์ถ่วงของพื้นที่ภายใต้คลื่นทั้งสองข้างต้นค่าจำกัด และคำนวณระยะห่างระหว่างศูนย์ถ่วงเงินที่เกี่ยวข้องเพื่อให้การวัดความหนาของวัสดุ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความหนาแผ่นกระจกวัดขัดแย้งลำแสงของรังสีบุกรุกบนกระจกเพื่อให้คู่ของลำแสงสะท้อนให้เห็นจากด้านหน้าและพื้นผิวด้านหลังของแผ่นกระจกตามลำดับ ทั้งสองคานจะทำให้ตกอยู่บนอุปกรณ์ที่ตอบสนองต่อการฉายรังสีในรูปแบบของค่าคู่อุปกรณ์ซึ่งมีผลภาพชีพจรของคานในรูปแบบของรูปคลื่นบันไดของเสียนกระจายที่ถูกตัดทอน circuity อิเล็กทรอนิกส์รวมทั้งไมโครโปรเซสเซอร์เป็นลูกจ้างในการคำนวณจุดศูนย์ถ่วงของพื้นที่ใต้รูปคลื่นทั้งสองข้างต้นค่าเกณฑ์ที่ใช้งานและระยะห่างระหว่างศูนย์กลางตามลำดับของแรงโน้มถ่วงเพื่อให้การคำนวณตัวชี้วัดความหนาของวัสดุที่ใช้ในการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เครื่องมือวัดความหนาของแผ่นแก้ว ซึ่งคานของรังสี impinged บนกระจกเพื่อให้คู่ของลำแสงที่สะท้อนจากพื้นผิวด้านหน้าและด้านหลังของแผ่นแก้วตามลำดับ คานทั้งสองถูกสร้างลงบนอุปกรณ์ที่ตอบสนองต่อรังสีในรูปของอุปกรณ์สร้างประจุไฟฟ้าซึ่งมีการแสดงผลของภาพคานในรูปของรูปคลื่นของปลายบันได ) การกระจาย การอ้อมอิเล็กทรอนิกส์ รวมทั้งเป็นไมโครโพรเซสเซอร์ ใช้เพื่อหาศูนย์กลางของแรงโน้มถ่วงของพื้นที่ทั้ง 3 ข้างต้นภายใต้เกณฑ์คุณค่า และระยะห่างระหว่างศูนย์กลางของแรงโน้มถ่วง แต่ละค่าให้วัดความหนาของวัสดุ