Surface morphology of the TCF, CF,

Surface morphology of the TCF, CF, and TiO2 powderwas studied
by scanning electron microscope (SEM), a field emission Hitachi S-
4500 SEM operated at 15 kV. This SEM is equipped with energy
dispersive X-ray spectroscopy (EDS) to examine the elemental
composition in the investigated samples. Small pieces of the prepared
photocatalyst were peeled off from the glass plate and stuck
on stubs using double-sided tape. Before the samples were analysed,
they were sputtered with a layer of gold film to prevent the
occurrence of charging effect. Whereas, the phase composition of
the prepared photocatalystwas studied using the powder and plate
XRD technique. The patterns were recorded on a Shimadzu X-ray
Diffractometer (XRD-6000) using Cu Ka radiation. Diffraction patterns
were taken over the 2q range 5e60.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ศึกษาสัณฐานวิทยาที่พื้นผิวของ powderwas TCF, CF และ TiO2ด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM), การปล่อย S ฮิตาชิ-4500 SEM ดำเนินที่ 15 kV SEM นี้มาพร้อมกับพลังงานสเปกโทรสโกเอ็กซเรย์ dispersive (EDS) การตรวจสอบธาตุองค์ประกอบในตัวอย่างตรวจสอบ ชิ้นเล็ก ๆ ที่เตรียมไว้ปอกเปลือกออกจากจานแก้ว และติด photocatalystในปลาที่ใช้เทปสองหน้า ก่อนที่ตัวอย่างได้วิเคราะห์พวกเขาถูก sputtered กับชั้นของฟิล์มทองเพื่อป้องกันการการเกิดขึ้นของชาร์จผล ในขณะที่ องค์ประกอบของขั้นตอนphotocatalystwas เตรียมศึกษาการใช้ผงและแผ่นเทคนิค XRD มีบันทึกรูปแบบการ Shimadzu X-rayDiffractometer (XRD-6000) ใช้รังสี Cu Ka รูปแบบการเลี้ยวเบนของแสงได้เอาไป 5e60 ในช่วงไตรมาส 2

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ลักษณะพื้นผิวของ TCF, CF และ TiO2 powderwas ศึกษา
โดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ซึ่งเป็นการปล่อยข้อมูลของฮิตาชิ S-
4500 SEM ดำเนินการใน 15 กิโลโวลต์ SEM นี้พร้อมกับพลังงาน
กระจาย X-ray สเปกโทรสโก (EDS) เพื่อตรวจสอบธาตุ
องค์ประกอบในตัวอย่างการตรวจสอบ ชิ้นเล็ก ๆ เตรียม
photocatalyst ถูกปอกเปลือกออกจากแผ่นกระจกและติดอยู่
บนต้นขั้วใช้สองหน้าเทป ก่อนที่กลุ่มตัวอย่างที่ได้มาวิเคราะห์,
พวกเขาถูกพ่นด้วยชั้นของฟิล์มทองเพื่อป้องกันไม่ให้
เกิดผลกระทบต่อการชาร์จ ขณะที่องค์ประกอบขั้นตอนของการ
photocatalystwas เตรียมศึกษาโดยใช้ผงและแผ่น
XRD เทคนิค รูปแบบนี้ถูกบันทึกไว้ใน Shimadzu X-ray
diffractometer (XRD-6000) โดยใช้รังสี Cu กา รูปแบบการเลี้ยวเบน
ถูกเอาไป 5e60 ช่วง 2Q ?.

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นผิวของ TCF , CF และ TiO2 powderwas ศึกษาโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) , การจัดเก็บข้อมูลข4500 SEM ดำเนินงานที่ 15 kV . SEM นี้เป็นอุปกรณ์ที่มีพลังงานเรย์กระจายตัวสเปกโทรสโกปี ( EDS ) เพื่อตรวจสอบธาตุองค์ประกอบในการตรวจสอบตัวอย่าง ชิ้นเล็กๆ เตรียมไว้photocatalyst ถูกลอกจากแผ่นแก้ว และติดต้นขั้วใช้เทปสองหน้า . ก่อนที่จะทำการวิเคราะห์ ,พวกเขา sputtered กับชั้นของฟิล์มทอง เพื่อป้องกันไม่ให้การเกิดของผล ส่วนเฟสองค์ประกอบของเตรียม photocatalystwas โดยใช้ผงและแผ่นวิเคราะห์เทคนิค รูปแบบการบันทึกที่ Shimadzu เอกซเรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( xrd-6000 ) ใช้ทองแดง กะ รังสี รูปแบบการเลี้ยวเบนถ่ายไป 2 ช่วง 5e60 .