For SEM in backscattering electron

For SEM in backscattering electron mode (BSE) and indentation
tests, the teeth were axially and transversally cut with a diamond
saw and embedded in a phenolic resin with carbon fibers
(Polyfast, Struers) with a heated press (150 bar, 5 min heating
time, 180 C; SimpliMet 3000 instrument, Buehler).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สำหรับ SEM ใน backscattering โหมดอิเล็กตรอน (BSE) และย่อหน้าทดสอบ ฟันอยู่ axially และ transversally ตัดกับเพชรเห็น และฝังอยู่ในยาง phenolic กับเส้นใยคาร์บอน(Polyfast, Struers) ด้วยการกดที่อุ่น (150 บาร์ เครื่องทำความร้อน 5 นาทีเวลา 180 C SimpliMet 3000 เครื่องมือ Buehler)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สำหรับ SEM ในโหมดอิเล็กตรอน backscattering (BSE)
และเยื้องทดสอบฟันที่ถูกแกนและตัดtransversally
กับเพชรเห็นและฝังตัวอยู่ในเรซินฟีนอลที่มีเส้นใยคาร์บอน
(Polyfast, STRUERS) ที่มีการอุ่นกด (150 บาร์ 5
นาทีความร้อนเวลา180 C; SimpliMet 3000 เครื่องมือ Buehler)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สำหรับ SEM ในโหมด backscattering อิเล็กตรอน ( BSE ) และการทดสอบการเยื้อง
, ฟันเป็นแผ่นเหลวแบบอิมัลชัน transversally และตัดกับเพชร
เห็นและฝังตัวอยู่ในเรซินฟีนด้วยคาร์บอนไฟเบอร์ ( polyfast struers
, ) กับกดร้อน ( 150 บาร์ , 5 นาทีความร้อน
เวลา 180  C ; simplimet 3000 อุปกรณ์ บิวเลอร์ )