Identical volumes are marked by squ

Identical volumes are marked by squares and the particles are evaluated with respect to inclination
d and thickness. Due to the fact that TEM analysis need thin electron transparent sections of the
volume (prepared from both sides of the lamella) a continuous transversal shift of the interface was
followed by SEM imaging and correlated with X-ray CT images for a large volume. The Xray CT
– SEM - TEM correlation in fig. 8a, b, c was carried out only at the final stage, having a thin
lamellar residue suitable for TEM. The usage of X-ray CT evaluation of particle inclinations in
correspondence to measured goniometric lightness distributions (here light incidence is 45° and the
detection angle varies from +75° to -75°, corresponding to an aspecular angle φ from 30° to -120°)
is demonstrated in fig. 9a – for a series of different effect pigment concentrations, where the
lightness curves are shifted to higher values and fig. 9b – for a series of effect coatings with rising
disorienter concentration, with a “rotation” of the lightness curves: less lightness in direction close
to the specular and more lightness in strong aspecular directions. The behavior of log(L*)=f(φ) in
both cases fits well with the Xray CT data of particle inclinations as given in the captures.
Therefore the gonio-spectrophotometric approach and the X-ray CT data are best suited to study
the effect particle orientation distribution in a sufficient large coatings volume and SEM /TEM
analysis can be used to investigate detectability of the pigments, resolution and local peculiarities
of the methods.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ไดรฟ์ข้อมูลที่เหมือนกันที่มีเครื่องหมายสี่เหลี่ยม และอนุภาคมีค่าเกี่ยวกับความเอียงd และความหนา เนื่องจากข้อเท็จจริงที่ว่ายการวิเคราะห์ต้องบางอิเล็กตรอนส่วนโปร่งใสของการปริมาตร (เตรียมจากทั้งสองด้านของ lamella) กะ transversal อย่างต่อเนื่องของอินเทอร์เฟซถูกตาม ด้วย SEM ภาพ และ correlated กับภาพเอกซเรย์ CT จำนวนมาก Xray CTความสัมพันธ์ยการ – SEM - fig. 8a, b, c ถูกดำเนินการที่ขั้นตอนสุดท้าย มีความบางสารตกค้าง lamellar เหมาะยการ การใช้งานของ CT เอกซเรย์ inclinations อนุภาคในการประเมินติดต่อเพื่อการกระจายแสงวัด goniometric (เกิดแสงเป็น 45 องศาและตรวจสอบมุมตั้งแต่ +75 °ถึง°-75 ที่สอดคล้องกับการ aspecular มุมφจาก 30 °ถึง-120 °)แสดงใน fig. 9a – สำหรับความเข้มข้นของเม็ดสีลักษณะพิเศษที่แตกต่างกัน ซึ่งจะเส้นโค้งสว่างจะเปลี่ยนค่าสูงและ 9b fig. – สำหรับเคลือบผลกับไรซิ่งความเข้มข้น disorienter กับ "หมุน" ของเส้นโค้งสว่าง: ปิดแสงน้อยในทิศทางการแสงสะท้อนแบบกระจกและเพิ่มเติมความสว่างในทิศทางแข็งแรง aspecular ลักษณะการทำงานของ log(L*)=f(φ) ในทั้งสองกรณีพอดีกับข้อมูล Xray CT ของอนุภาค inclinations ที่กำหนดในการจับดังนั้น วิธี gonio spectrophotometric และข้อมูลเอกซเรย์ CT เหมาะสุดในการศึกษากระจายแนวอนุภาคผลปริมาณไม้แปรรูปขนาดใหญ่พอและ SEM /TEMสามารถใช้วิเคราะห์วิพากษ์ detectability ของสี ความละเอียด และข้องท้องถิ่นวิธีการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เล่มที่เหมือนกันโดยมีการทำเครื่องหมายสี่เหลี่ยมและอนุภาคมีการประเมินที่เกี่ยวกับความชอบ
งและความหนา เนื่องจากข้อเท็จจริงที่ว่าการวิเคราะห์ TEM ต้องโปร่งใสส่วนอิเล็กตรอนบางของ
เสียง (จัดทำขึ้นจากทั้งสองด้านของใบมีด) มีการเปลี่ยนแปลงอย่างต่อเนื่องขวางของอินเตอร์เฟซได้รับ
ตามมาด้วยการถ่ายภาพ SEM และมีความสัมพันธ์กับภาพ CT X-ray สำหรับปริมาณมาก Xray CT
- SEM - ความสัมพันธ์ TEM ในรูป 8a b, c ได้ดำเนินการเฉพาะในขั้นตอนสุดท้ายที่มีบาง
ตกค้าง lamellar เหมาะสำหรับ TEM การใช้งานของ X-ray CT การประเมินผลของอนุภาคความโน้มเอียงใน
การติดต่อเพื่อวัดการกระจายความสว่าง goniometric (อุบัติการณ์แสงนี่คือ 45 องศาและ
มุมที่แตกต่างจากการตรวจสอบ + 75 °ถึง -75 °สอดคล้องกับมุม aspecular φจาก 30 °ถึง - 120 °)
จะแสดงให้เห็นในรูป 9a - สำหรับชุดของความเข้มข้นของเม็ดสีที่มีผลแตกต่างกันที่
เส้นโค้งความสว่างจะถูกเลื่อนไปเป็นค่าที่สูงขึ้นและมะเดื่อ 9b - สำหรับชุดของการเคลือบที่มีผลต่อการเพิ่มขึ้นของ
ความเข้มข้น disorienter กับ "หมุน" เส้นโค้งของความสว่าง: ความสว่างน้อยในทิศทางที่ใกล้
จะ specular และความสว่างมากขึ้นในทิศทางที่แข็งแกร่ง aspecular พฤติกรรมของการเข้าสู่ระบบ (L *) = f (φ) ใน
ทั้งสองกรณีพอดีกับข้อมูล Xray CT ความโน้มเอียงของอนุภาคตามที่กำหนดในจับ.
ดังนั้นวิธี Gonio-สเปกและข้อมูล CT X-ray มีความเหมาะสมที่ดีที่สุดในการศึกษา
การกระจายการวางแนวทางอนุภาคผลบังคับใช้ในปริมาณที่มีขนาดใหญ่เพียงพอที่เคลือบและ SEM / TEM
วิเคราะห์สามารถนำมาใช้ในการตรวจสอบ detectability ของเม็ดสีความละเอียดและลักษณะท้องถิ่น
ของวิธีการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ปริมาณที่เหมือนกันเป็นเครื่องหมายสี่เหลี่ยมและอนุภาคจะถูกประเมินด้วยการเอียง
D และความหนา เนื่องจากการวิเคราะห์แบบต้องการบางอิเล็กตรอนโปร่งใสส่วนของ
ปริมาณ ( ที่เตรียมจากทั้งสองด้านของโครงสร้าง ) ต่อเนื่องขวางเปลี่ยนอินเตอร์เฟซเป็น
ตามภาพซึ่งมีความสัมพันธ์กับภาพเอกซเรย์ CT สำหรับ ปริมาณมาก โดย
Xray CTแบบในรูป ( SEM ) - เอ บี ซี ทำเฉพาะในขั้นตอนสุดท้าย มีบาง
กากที่เหมาะสมสำหรับปรับปรุงโปรแกรมอุณหภูมิ การใช้รังสี CT การประเมินความโน้มเอียงในการกระจายอนุภาค
วัดความสว่าง goniometric ( อุบัติการณ์ที่นี่แสง 45 องศา และมุมที่แตกต่างจาก 75 องศา
ตรวจจับ - 75 องศา ที่ต้องมีมุม 30 องศาจากφ aspecular - 120 องศา )
แสดงให้เห็นในรูปที่ 9A –สำหรับชุดของผลกระทบที่แตกต่างกันสีและความสว่างที่
เส้นโค้งจะเปลี่ยนค่าที่สูงกว่าและมะเดื่อ 9B ) สำหรับชุดของการเคลือบผลเพิ่มขึ้น
disorienter สมาธิกับ " หมุน " ของความสว่างเส้นโค้ง : น้อยกว่าความสว่างใน
ปิดทิศทางให้กับการสะท้อนแสง และความสว่างใน เส้นทาง aspecular แข็งแรงพฤติกรรมของ log ( L * ) = f (
φ ) ในทั้งสองกรณีพอดีกับ Xray CT ข้อมูล inclinations อนุภาคตามที่ กำหนดในการดักจับ
ดังนั้น gonio ) วิธีการและ X-ray CT ข้อมูลที่ดีที่สุดที่เหมาะสมกับการศึกษา
ผลกระทบอนุภาคกระจายในแนวเพียงพอขนาดใหญ่ปริมาณและ SEM / เคลือบ แตม
การวิเคราะห์สามารถใช้ตรวจสอบการควบคุมคุณภาพของเม็ดสีความละเอียดและท้องถิ่น peculiarities
ในวิธีการ