Scanning electron microscopy and en

Scanning electron microscopy and energy dispersive spectroscopy
(JEOL JSM 6460 SEM/EDS) techniques were used to analyse
the worn surfaces after testing. To avoid electron charging of the
samples due to the presence of silica particles (non-conductive
constituents), the samples were sputtered with gold. The surface
roughness values of the specimens were determined by means of a
Wyko 1100NT 3D optical surface profiler.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกน microscopy ของอิเล็กตรอนและพลังงาน dispersive ก(JEOL JSM 6460 SEM/EDS) เทคนิคที่ใช้วิเคราะห์พื้นผิวสวมใส่หลังจากการทดสอบ เพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จของอิเล็กตรอนตัวอย่างเนื่องจากสถานะของอนุภาคซิลิกา (ไม่ใช่ไฟฟ้าconstituents), ตัวอย่างถูก sputtered กับทองคำ พื้นผิวมีกำหนดค่าความหยาบของตัวไว้เป็นตัวอย่างโดยวิธีของการWyko 1100NT 3D แสงผิวตัวสร้างโพรไฟล์

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนและพลังงานกระจายสเปกโทรสโก
(JEOL JSM 6460 SEM / EDS)
เทคนิคการถูกนำมาใช้ในการวิเคราะห์พื้นผิวที่สึกหรอหลังจากการทดสอบ เพื่อหลีกเลี่ยงการชาร์จอิเล็กตรอนของตัวอย่างอันเนื่องมาจากการปรากฏตัวของอนุภาคซิลิกา(ไม่นำไฟฟ้าคนละเรื่อง) ตัวอย่างที่ถูกพ่นด้วยทองคำ พื้นผิวที่ค่าความขรุขระของชิ้นงานที่ได้รับการพิจารณาโดยวิธีการของWyko 1100NT รวมข้อมูลพื้นผิว 3 มิติแสง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด และพลังงานกระจายตัวสเปกโทรสโกปี
( Jeol JSM 6460 SEM / EDS ) เทคนิควิเคราะห์
ใส่พื้นผิวหลังจากการทดสอบ เพื่อหลีกเลี่ยงการเรียกเก็บเงินของอิเล็กตรอน
ตัวอย่างเนื่องจากการแสดงตนของอนุภาคซิลิกา ( non-conductive
องค์ประกอบ ) , จำนวน sputtered กับทอง ค่าความขรุขระของผิว
ทำการตัดสินใจโดยวิธีการของ
wyko 1100nt 3D พื้นผิวแสง Profiler