Eye movement-related artefact in th

Eye movement-related artefact in the EEG causes serious
dif®culties in the interpretation of EEG (as is described
more fully in Croft and Barry, 1998a). One method of reducing
this problem is to remove the ocular voltage from the
EEG using EOG correction techniques. For example in Eq.
(1) the true EEG (estTEEG) at time point (i) is estimated as
the measured EEG (MEEG) minus a proportion (B) of the
voltage measured about the eyes (Gratton et al., 1983). B is
typically calculated separately for each subject and scalp
site using Eq. (2) (the least squares method), where X and
Y are the EOG and EEG voltages, respectively, at time i.
With the use of such a procedure, the experimenter does not
have to reject data contaminated by ocular artefact.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตาที่เกี่ยวข้องกับการเคลื่อนไหว artefact ใน EEG สาเหตุร้ายแรงdif ® culties ในการตีความของ EEG (ตามที่อธิบายไว้เติมเต็มใน Croft และ Barry, 1998a) วิธีการหนึ่งของการลดปัญหานี้คือการ เอาแรงดันแนวจากการEEG ที่ใช้เทคนิคการแก้ไข EOG ตัวอย่างใน Eq.(1 EEG)จริง (estTEEG) ในเวลา (i) มีประเมินเป็นที่วัด EEG (MEEG) ลบสัดส่วน (B) ของการวัดแรงดันไฟฟ้าเกี่ยวกับตา (Gratton และ al., 1983) B คือโดยทั่วไปคำนวณแยกกันในแต่ละเรื่องและหนังศีรษะไซต์ใช้ Eq. (2) (กำลังสองน้อยสุดวิธี), ที่ X และY แรงดัน EOG และ EEG ตามลำดับ เวลาฉันด้วยการใช้ของกระบวนการ การ experimenter ไม่ได้ต้องปฏิเสธข้อมูลที่ปนเปื้อน โดย artefact แนว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตาสิ่งประดิษฐ์ที่เกี่ยวข้องกับการเคลื่อนไหวในสมองที่ทำให้เกิดร้ายแรงdif®cultiesในการตีความของคลื่นไฟฟ้าสมอง(ตามที่อธิบายไว้อย่างเต็มที่มากขึ้นในทุ่งนาและแบร์รี่, 1998) วิธีการหนึ่งในการลดปัญหานี้คือการเอาแรงดันตาจากสมองโดยใช้เทคนิคการแก้ไขEOG ยกตัวอย่างเช่นในสม. (1) จริง EEG (estTEEG) ที่จุดเวลา (i) เป็นที่คาดกันว่าเป็นวัดคลื่นไฟฟ้าสมอง(MEEG) ลบสัดส่วน (B) ของแรงดันไฟฟ้าที่วัดเกี่ยวกับตา(Gratton et al., 1983) . บีคำนวณมักจะแยกต่างหากสำหรับแต่ละเรื่องและหนังศีรษะเว็บไซต์โดยใช้สมการ (2) (วิธีกำลังสองน้อย) ที่ X และY เป็นแรงดันไฟฟ้า EOG และสมองตามลำดับในเวลา i. ด้วยการใช้ดังกล่าวขั้นตอนการทดลองไม่ได้มีข้อมูลในการปฏิเสธการปนเปื้อนจากสิ่งประดิษฐ์เกี่ยวกับตา

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเคลื่อนไหวของสายตาใน EEG สิ่งประดิษฐ์ที่เกี่ยวข้องสาเหตุร้ายแรง
ดิฟ® culties ในการแปลความหมายของ EEG ( ตามที่อธิบาย
อย่างเต็มที่ในที่ดินฝืนเล็กและแบรี่ 1998a ) วิธีหนึ่งในการลดปัญหานี้ คือการเอา

แรงดันจักษุจากสมองโดยใช้เทคนิคแก้ไข eog . ตัวอย่างเช่นในอีคิว
( 1 ) แท้ ( estteeg EEG ) ณจุดเวลา ( ผม ) ประมาณ
วัดสมอง ( meeg ) ลบด้วยสัดส่วน ( B ) ของ
แรงดันวัดเกี่ยวกับตา ( แกรตเติ้น et al . , 1983 ) B
มักจะคำนวณแยกต่างหากสำหรับแต่ละเรื่อง และเว็บไซต์หนังศีรษะ
ใช้อีคิว ( 2 ) ( วิธีกำลังสองน้อยที่สุด ) โดยที่ X และ Y เป็น eog EEG
และแรงดันไฟฟ้าตามลำดับที่เวลาผม
ที่มีการใช้ดังกล่าวเป็นขั้นตอนการทดลองไม่
ต้องปฏิเสธข้อมูลที่ปนเปื้อนโดยจักษุสิ่งประดิษฐ์ .