Small (1.0and 2.5 mm2) areas of the

Small (1.0and 2.5 mm2) areas of the samples were then scanned with the AFM
operating in intermittent contact mode using tapping mode etched silicon probes (TESP). The spring constants for these probes were 20e100 N m1 and the nominal tip radius of curvature was 5e10 nm. The cantilever controls, namely drive frequency, amplitude, gains, and amplitude set point ratio (rsp) were adjusted to give height and phase-shift images with the clearest image details.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ขนาดเล็ก (1.0 และ 2.5 mm2) แล้วสแกนพื้นที่ตัวอย่าง มีประสิทธิผลทำงานในโหมดติดต่อเป็นระยะ ๆ ใช้แตะโหมดสลักหัวซิลิโคน (TESP) ค่าคงที่สปริงวัดเหล่านี้ 20e100 N m1 และคำแนะนำการกำหนดรัศมีของความโค้ง 5e10 nm ควบคุม cantilever คือขับความถี่ คลื่น กำไร และอัตราส่วนคลื่นจุดที่ตั้ง (rsp) ถูกปรับให้สูงและกะระยะภาพ มีรายละเอียดภาพชัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ขนาดเล็ก (1.0and 2.5 mm2) พื้นที่ของกลุ่มตัวอย่างถูกสแกนแล้วกับ AFM
ทำงานในโหมดการติดต่อเป็นระยะ ๆ โดยใช้แตะโหมดฝัง probes ซิลิกอน (Tesp) ค่าคงที่สำหรับฤดูใบไม้ผลิฟิวส์เหล่านี้เป็น 20e100 N M1 และรัศมีปลายเล็กน้อยของความโค้งเป็น 5e10 นาโนเมตร การควบคุมเท้าแขนคือไดรฟ์ความถี่กว้างกำไรและอัตราส่วนความกว้างจุดที่ตั้ง (RSP) มีการปรับเพื่อให้มีความสูงและเฟสกะภาพที่มีรายละเอียดภาพที่ชัดเจน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ขนาดเล็ก ( 1.0and 2.5 แน่น ) พื้นที่ของกลุ่มตัวอย่าง แล้วสแกนด้วยเครื่อง AFMดำเนินการในโหมดติดต่อต่อเนื่องโดยใช้โหมดเคาะสลักซิลิคอนโพรบ ( tesp ) ฤดูใบไม้ผลิค่าคงที่สำหรับ probes เหล่านี้ 20e100 N M1 และระบุปลายรัศมีความโค้งคือ 5e10 nm . ที่เท้าแขนการควบคุม ได้แก่ ไดรฟ์ความถี่ต่ำ , ผลกำไรและอัตราส่วนแอมพลิจูด ( RSP ) ตั้งจุดปรับให้ความสูงและ phase-shift ภาพชัดเจน รายละเอียดภาพ