The microstructure of hard candy wa

The microstructure of hard candy was observed using Scanning electron microscopy. Scanning electron microscopy (SEM) is a method for high-resolution imaging of surfaces. The advantages of Scanning electron microscopy over light microscopy include much higher magnification (>100,000X) and greater depth of field up to 100 times that of light microscopy.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ต่อโครงสร้างจุลภาคของลูกกวาดที่ถูกตรวจสอบโดยใช้การสแกน microscopy อิเล็กตรอน การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) คือ วิธีการภาพความละเอียดสูงพื้นผิว ข้อดีของการสแกน microscopy อิเล็กตรอนผ่าน microscopy แสงมีอัตราขยายสูงมาก (> 100, 000 X) และยิ่งลึกถึง 100 เท่าที่ microscopy แสง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

จุลภาคของลูกอมที่ได้รับการตั้งข้อสังเกตโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) เป็นวิธีการสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูงของพื้นผิว ข้อดีของกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกนมากกว่ากล้องจุลทรรศน์แสงรวมถึงการขยายที่สูงขึ้นมาก (> 100,000X) และลึกมากขึ้นของสนามได้ถึง 100 เท่าของกล้องจุลทรรศน์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โครงสร้างของลูกกวาดถูกตรวจสอบด้วยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด . กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เป็นวิธีที่ให้ภาพความละเอียดสูงของพื้นผิว ข้อดีของการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนผ่านกล้องจุลทรรศน์แสง รวมถึงการขยายสูงมาก ( > 100000x ) และลึกมากขึ้นของเขตข้อมูลได้ถึง 100 เท่าของกล้องจุลทรรศน์แสง