X-ray diffract meter analysis was u

X-ray diffract meter analysis was used to determine the crystalline structure of material thin films sample.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เอ็กซ์เรย์ diffract วัดวิเคราะห์ใช้ในการกำหนดโครงสร้างผลึกของวัสดุฟิล์มบางอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

diffract X-ray วิเคราะห์เมตรถูกใช้ในการกำหนดโครงสร้างผลึกของฟิล์มบางวัสดุตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รังสีเอกซ์ diffract การวิเคราะห์เมตรถูกใช้เพื่อตรวจสอบโครงสร้างผลึกของฟิล์มบางตัวอย่างวัสดุ