In semiconductor, telecommunication

In semiconductor, telecommunication and other technology- driven industries, the requirements of highly-reliable products render traditional reliability methods obsolete due to the shrink of the design cycle. The situation becomes more challenging as these industries are shifting to the distributed manufacturing paradigm. The distributed manufacturing paradigm is built upon a pipeline, where the customer demands pushes the design, the design drives the manufacturing, and the manufacturing further pushes the final shipment. Given such a compressed design cycle, it is almost impossible for equipment manufacturers to implement extended in-house reliability growth testing. While the new paradigm may shrink the design cycle and reduce the manufacturing cost, if not properly managed, the man- ufacturer may incur escalated warranty costs and receive excessive customer complaints due to the poor product reliability. Eventually it may result in the long term damage to the market share and the credibility. Fig. 1 depicts the life cycle of automatic test equipment (ATE) from the design to the field deployment in the distributed manufacturing paradigm. ATE is a high-end electronics system widely used for testing wafers and devices in semiconductor industry.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในสารกึ่งตัวนำ โทรคมนาคม และอื่น ๆ เทคโนโลยีขับเคลื่อนอุตสาหกรรม ความต้องการของผลิตภัณฑ์น่าเชื่อถือทำให้ความเชื่อถือดั้งเดิมวิธีล้าสมัยเนื่องจากย่อขนาดของวงจรออกแบบ สถานการณ์จะ ท้าทายมากเป็นอุตสาหกรรมเหล่านี้จะขยับเพื่อกระบวนทัศน์ผลิตกระจาย กระบวนทัศน์ผลิตกระจายอยู่ตามไลน์ ที่ลูกค้าต้องการนั่นก็ทำให้การออกแบบ ไดรฟ์ออกแบบผลิต และการผลิตเพิ่มเติมผลักดันการจัดส่งขั้นสุดท้าย ให้วงจรดังกล่าวออกแบบบีบอัด ได้เกือบเป็นไปไม่ได้สำหรับผู้ผลิตอุปกรณ์เพื่อใช้ทดสอบความน่าเชื่อถือภายในขยายเจริญเติบโต ในขณะที่กระบวนทัศน์ใหม่อาจหดวงจรการออกแบบ และลดการผลิตต้นทุน ถ้า ไม่มีจัดการอย่างถูกต้อง ufacturer คนอาจใช้ต้นทุนรับประกันการเลื่อนระดับ และรับข้อร้องเรียนลูกค้ามากเกินไปเนื่องจากความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ไม่ดี ในที่สุดอาจส่งผลเสียระยะยาวส่วนแบ่งตลาดและความน่าเชื่อถือที่ Fig. 1 มีภาพวัฏจักรของอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติ (ATE) จากการออกแบบการจัดวางฟิลด์ในกระบวนทัศน์ผลิตกระจาย กินเป็นระบบอิเล็กทรอนิกส์สูงใช้สำหรับการทดสอบการรับและอุปกรณ์ในอุตสาหกรรมสารกึ่งตัวนำ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในเซมิคอนดักเตอร์โทรคมนาคมและอุตสาหกรรมอื่น ๆ ที่ขับเคลื่อนด้วยเทคโนโลยีความต้องการของผลิตภัณฑ์สูงที่เชื่อถือได้ทำให้ความน่าเชื่อถือของวิธีการแบบดั้งเดิมที่ล้าสมัยเนื่องจากการหดตัวของวงจรการออกแบบ สถานการณ์กลายเป็นความท้าทายมากขึ้นเช่นอุตสาหกรรมเหล่านี้จะขยับไปสู่​​กระบวนทัศน์การผลิตกระจาย กระบวนทัศน์การผลิตกระจายถูกสร้างขึ้นบนท่อที่ความต้องการของลูกค้าดันการออกแบบ, การออกแบบไดรฟ์การผลิตและการผลิตต่อไปผลักดันให้การจัดส่งสุดท้าย ป.ร. ให้ไว้เช่นการออกแบบวงจรอัดมันเป็นไปไม่ได้เกือบสำหรับผู้ผลิตอุปกรณ์ที่จะใช้ขยายในบ้านการเจริญเติบโตของการทดสอบความน่าเชื่อถือ ในขณะที่กระบวนทัศน์ใหม่อาจหดตัวการออกแบบวงจรและลดต้นทุนการผลิตหากไม่ได้รับการจัดการอย่างถูกต้อง ufacturer มนุษย์อาจต้องเสียค่าใช้จ่ายในการรับประกันเพิ่มขึ้นและได้รับการร้องเรียนของลูกค้าที่มากเกินไปเนื่องจากความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ที่ไม่ดี ในที่สุดมันก็อาจส่งผลให้เกิดความเสียหายในระยะยาวส่วนแบ่งการตลาดและความน่าเชื่อถือ รูป 1 แสดงให้เห็นวงจรชีวิตของอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติ (ATE) จากการออกแบบที่จะใช้งานสนามในกระบวนทัศน์การผลิตกระจาย ATE เป็นระบบอิเล็กทรอนิกส์ระดับไฮเอนด์ที่ใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับช็อคโกแลตและการทดสอบอุปกรณ์ในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ในสารกึ่งตัวนำ โทรคมนาคม และ เทคโนโลยีอื่น ๆขับเคลื่อนอุตสาหกรรมความต้องการของผลิตภัณฑ์ที่เชื่อถือได้สูงดั้งเดิมวิธีที่ล้าสมัยทำให้ความน่าเชื่อถือเนื่องจากการหดตัวของการออกแบบวงจร . สถานการณ์จะกลายเป็นความท้าทายมากขึ้น เช่น อุตสาหกรรมเหล่านี้จะขยับเพื่อกระจายการผลิตกระบวนทัศน์ . การกระจายการผลิตตัวอย่างถูกสร้างขึ้นบนท่อ ,ที่ลูกค้าต้องการผลักดันการออกแบบการออกแบบไดรฟ์การผลิตและการผลิตเพิ่มเติม ผลักดันสินค้าขั้นสุดท้าย ให้เช่นการออกแบบวงจรอัด มันเป็นไปไม่ได้เกือบสำหรับผู้ผลิตอุปกรณ์เพื่อใช้ในการขยายแบบทดสอบ ในขณะที่กระบวนทัศน์ใหม่อาจหดวงจรการออกแบบและลดต้นทุนการผลิตหากมีการจัดการอย่างถูกต้อง ผู้ชาย - เราเป็นผู้ผลิตอาจต้องเพิ่มขึ้นต้นทุนการรับประกันและรับเรื่องร้องเรียนลูกค้ามากเกินไปเนื่องจากมีความน่าเชื่อถือของผลิตภัณฑ์ที่ไม่ดี ในที่สุดก็อาจส่งผลในระยะยาวเสียส่วนแบ่งตลาด และน่าเชื่อถือ รูปที่ 1 แสดงวงจรชีวิตของอุปกรณ์ทดสอบอัตโนมัติ ( กิน ) จากการออกแบบเพื่อการใช้งานในการกระจายการผลิตด้านกระบวนทัศน์ .กินเป็น high - end ระบบอิเล็กทรอนิกส์ที่ใช้กันอย่างแพร่หลายสำหรับการทดสอบเวเฟอร์และอุปกรณ์ในอุตสาหกรรมเซมิคอนดักเตอร์