due to eliminate wafer test step 2

due to eliminate wafer test step 2 and wait for use new program on final test.


Action taken by owner :
After problem owner monitor result there is no potential risk then no FH require anymore and use new test program on final test already.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เนื่องจากการตัดแผ่นเวเฟอร์ทดสอบขั้นตอนที่ 2 และรอโปรแกรมใหม่ที่ใช้ในการทดสอบขั้นสุดท้ายดำเนินการ โดยเจ้าของ:หลังจากผลการตรวจสอบเจ้าของปัญหา ได้ไม่มีความเสี่ยงที่อาจเกิดขึ้น แล้ว FH ไม่ต้องอีกต่อไป และใช้โปรแกรมทดสอบใหม่ในการทดสอบขั้นสุดท้ายแล้ว

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

. เนื่องจากการขจัดขั้นตอนที่ 2 การทดสอบเวเฟอร์และรอสำหรับการใช้งานโปรแกรมใหม่ในการทดสอบครั้งสุดท้ายของการดำเนินการดำเนินการโดยเจ้าของ: หลังจากที่ผลการตรวจสอบปัญหาที่เจ้าของไม่มีความเสี่ยงที่อาจเกิดขึ้นแล้ว FH ไม่ต้องการอีกต่อไปและใช้โปรแกรมการทดสอบใหม่ในการทดสอบขั้นสุดท้ายแล้ว

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เนื่องจากการทดสอบเวเฟอร์และขจัดขั้นตอนที่ 2 รอใช้ใหม่โปรแกรมในการทดสอบครั้งสุดท้าย


กระทำโดยเจ้าของ :
หลังจากตรวจสอบเจ้าของปัญหาผลไม่มีความเสี่ยงที่อาจเกิดขึ้นแล้ว ไม่ต้องใช้โปรแกรมทดสอบแล้ว FH ใหม่ในการทดสอบขั้นสุดท้ายแล้ว