The samples of PS media wereplaced

The samples of PS media were
placed in a carbon-based disk which then exposed to
a beam (stream) of electrons. The X-rays emitted from
the PS media after the bombardment of electrons were
Environ Monit Assess
used for determination of elemental composition.
Surface characterization of media was carried out by
Scanning Electron Microscopy (SEM) under ×1,000
magnification

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เก็บตัวอย่างของสื่อ PSวางไว้ในดิสก์ซึ่งแล้ว สัมผัสกับคาร์บอนลำแสง (สตรีม) อิเล็กตรอน รังสีเอกซ์ออกจากสื่อ PS หลังระดมยิงของอิเล็กตรอนได้Environ Monit ประเมินใช้สำหรับกำหนดองค์ประกอบของธาตุลักษณะพื้นผิวของสื่อที่ดำเนินการโดยการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ภายใต้× 1,000กำลังขยาย

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวอย่างของสื่อ PS ถูก
วางไว้ในดิสก์คาร์บอนซึ่งสัมผัสกับ
ลำแสง (สตรีม) ของอิเล็กตรอน รังสีเอกซ์ออกมาจาก
สื่อ PS หลังจากการโจมตีของอิเล็กตรอนเป็น
Environ Monit ประเมิน
ใช้สำหรับการวัดธาตุองค์ประกอบ
ลักษณะพื้นผิวของสื่อได้ดำเนินการโดย
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ภายใต้× 1,000
ขยาย

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตัวอย่างของ PS สื่อคืออยู่ในดิสก์ซึ่งตากจากคาร์บอนคาน ( กระแส ) ของอิเล็กตรอน รังสีเอกซ์ที่ปล่อยออกมาจากปล . หลังจากการโจมตีของอิเล็กตรอนเป็นสื่อสิ่งแวดล้อม monit ประเมินใช้สำหรับการวิเคราะห์องค์ประกอบธาตุลักษณะพื้นผิวของสื่อที่ทำโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ภายใต้× 1000แว่นขยาย