capable of measuring the optical po

capable of measuring the optical power and wavelength of semiconductor lasers including short wavelength lasers, high power pumps, and fiber lasers. A variety of measurement heads cover wavelength ranges from 350 to 1650 nm for power only or power and wavelength measurement. The OMM-6810B is loaded with standard features such as log/linear display modes, auto ranging, user calibration, reference measurement capability, analog output and IEEE-standard GPIB interface to make this instrument a cost-effective laser diode development or production test tool.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สามารถวัดพลังงานแสงและความยาวคลื่นของแสงเลเซอร์ความยาวคลื่นสั้น เครื่องสูบน้ำพลังสูง และไฟเบอร์เลเซอร์เลเซอร์สารกึ่งตัวนำ หัวตรวจวัดที่หลากหลายครอบคลุมช่วงความยาวคลื่นตั้งแต่ 350 ถึง 1650 nm สำหรับวัดพลังงานและความยาวคลื่นหรือพลังงานเท่านั้น โอมม์-6810B ถูกโหลด ด้วยคุณสมบัติมาตรฐานเช่นโหมดการแสดงผลเชิงล็อก ตั้งแต่อัตโนมัติ ผู้ใช้สอบเทียบ ความสามารถในการวัดอ้างอิง เอาท์พุทแบบอนาล็อก และมาตรฐาน IEEE GPIB อินเทอร์เฟซให้เป็นเครื่องคุ้มค่าเลเซอร์ไดโอดการพัฒนาทดสอบเครื่องมือ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ความสามารถในการวัดพลังงานแสงและความยาวคลื่นของเลเซอร์เซมิคอนดักเตอร์รวมทั้งเลเซอร์ความยาวคลื่นสั้น, ปั๊มพลังงานสูงและไฟเบอร์เลเซอร์ ความหลากหลายของหัววัดครอบคลุมช่วงความยาวคลื่น 350-1650 นาโนเมตรสำหรับการใช้พลังงานเพียงอย่างเดียวหรือใช้พลังงานและความยาวคลื่นวัด OMM-6810B เต็มไปด้วยคุณสมบัติมาตรฐานเช่นโหมดล็อก / จอแสดงผลเชิงเส้นอัตโนมัติตั้งแต่การสอบเทียบการใช้ความสามารถในการวัดการอ้างอิงเอาท์พุทอะนาล็อกและอินเตอร์เฟซ GPIB IEEE มาตรฐานที่จะทำให้เครื่องมือนี้มีค่าใช้จ่ายที่มีประสิทธิภาพการพัฒนาเลเซอร์ไดโอดหรือเครื่องมือทดสอบการผลิต .

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ความสามารถในการวัดพลังงานแสงและความยาวคลื่นของเลเซอร์สารกึ่งตัวนำรวมถึงเลเซอร์ความยาวคลื่นสั้น ปั๊มพลังสูง และไฟเบอร์เลเซอร์ ความหลากหลายของหัววัดครอบคลุมความยาวคลื่นช่วงจาก 350 650 nm สำหรับพลังงานหรือพลังงานและการวัดความยาวคลื่น การ omm-6810b เต็มไปด้วยคุณสมบัติมาตรฐานเช่นระบบเชิงเส้น / โหมดอัตโนมัติโดยผู้ใช้ที่แสดงความสามารถในการวัด การสอบเทียบ , อ้างอิง , เอาท์พุทอนาล็อกและมาตรฐานของ IEEE gpib อินเตอร์เฟซเพื่อให้เครื่องมือนี้มีประสิทธิภาพไดโอดเลเซอร์การพัฒนาเครื่องมือทดสอบการผลิต